-
-
MVP - 自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)
- 品牌:
- 型號(hào): Ultra 850G/ Spectra
- 產(chǎn)地:美洲 美國
- 供應(yīng)商報(bào)價(jià):面議
-
香港電子器材有限公司
更新時(shí)間:2025-05-29 09:13:35
-
銷售范圍售全國
入駐年限第10年
營(yíng)業(yè)執(zhí)照已審核
- 同類產(chǎn)品量測(cè)儀器(4件)
立即掃碼咨詢
聯(lián)系方式:021-63813293
聯(lián)系我們時(shí)請(qǐng)說明在儀器網(wǎng)(www.yosen.net.cn)上看到的!
掃 碼 分 享 -
為您推薦
詳細(xì)介紹
?主要型號(hào):
Ultra 850G系列: 花崗巖平臺(tái)的微電子和半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)。BGA和BUMP檢測(cè)、線焊、3D測(cè)算、環(huán)氧樹脂助焊劑、DIE放置精度和表面光潔度檢測(cè)。
檢測(cè)速度:
? 每小時(shí)檢測(cè)可達(dá)到20,000個(gè)芯片
? 高速3D激光高度計(jì)算系統(tǒng)硬件:
? ZG的 “飛行”圖像采集技術(shù)
? 程序控制不同的LED燈光
? 3DZG技術(shù),精度2到4微米
? 視場(chǎng)范圍分辨率1-25微米/像素
? 可檢測(cè)0201和01005
? 檢測(cè)范圍355 x 355mmSpectra 系列: SPECTRA系列主要針對(duì)大規(guī)格的板子的生產(chǎn)線。MVP的飛行檢測(cè)平臺(tái)組合了三色光技術(shù),擁有快速的測(cè)周期時(shí)間,同時(shí)提高了檢測(cè)能力。
? 標(biāo)準(zhǔn)的大規(guī)格系統(tǒng)24” x 24”
? zui大板子處理能力達(dá) 24 “x 36”
? 靈活的,可靠的及堅(jiān)固耐用的AOI
? 較低的成本優(yōu)勢(shì)
? 屢獲殊榮的易用型iPro 軟件
? 可選3D錫膏檢測(cè)功能
? yi流領(lǐng)xian的性能及產(chǎn)量能力Ultra 系列: ULTRA系列的三色光技術(shù)使用多角度燈光來確定每個(gè)元件及引角的不同特征,進(jìn)而通過單一的圖相來檢測(cè)所有特征。
? 標(biāo)準(zhǔn)的大規(guī)格系統(tǒng) 20” x 20”
? zui大板子處理能力達(dá) 20” x 30”
? 靈活的, 可靠的及堅(jiān)固耐用的AOI
? 較低的成本優(yōu)勢(shì)
? 易用型ePro 軟件
? 可選3D錫膏檢測(cè)功能Supra E系列: 作為標(biāo)準(zhǔn)配置的SUPRA E系列,使用多角度的燈光來確定每個(gè)元件及引腳的不同特征,進(jìn)而通過單一的圖像來檢查所有特征。
? 高速性價(jià)比
? 可測(cè)板規(guī)規(guī)格達(dá): 20” x 30”
? 2D錫膏檢測(cè)功能
? 可選雙軌與三色光
? 可用于錫膏印刷后,回流焊后
? 高處理能力的500萬像素照相機(jī)和四個(gè)角度不同燈光
? 可01005檢測(cè)能力
? 有助拓寬缺陷覆蓋率,并降低誤報(bào)易用型編程軟件工具 MVP的Auto Trainer允許離線完成AOI設(shè)備的編程。 Auto Trainer支持使用ePro編程向?qū)щx線生成程式。使用自動(dòng)優(yōu)化(Auto-Optiize)向?qū)Э梢噪x線微調(diào)和程式優(yōu)化,使對(duì)AOI的覆蓋率和缺陷偵測(cè)率有較高的性能和信心。
Validate
驗(yàn)證缺陷的覆覆蓋率自動(dòng)
微調(diào)參數(shù)自動(dòng)優(yōu)化程序ePro
快速生成檢測(cè)程序極高缺陷
覆沒技術(shù)員級(jí)可勝任編程芯片放置精度,
表面潔度及劃痕焊線檢測(cè)
3D BGA. Bump
和錫膏檢測(cè)Epoxy以及底部
填充物檢測(cè)附加檢測(cè)能力
您可能感興趣的產(chǎn)品
-
MVP - 自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)
-
Camtek - 自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)
-
自動(dòng)光學(xué)檢測(cè) (AOI) 系統(tǒng)
-
自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng) (AOI) - Supra Era系列
-
LED光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)
-
CAMTEK - 自動(dòng)晶圓光學(xué)檢測(cè) (WAFER AOI) 系統(tǒng)
-
光學(xué)鏡頭光譜透過率檢測(cè)系統(tǒng)
-
TubeInspect光學(xué)管件檢測(cè)系統(tǒng)
-
TubeInspect光學(xué)管件檢測(cè)系統(tǒng)
-
ATOS自動(dòng)變壓器檢測(cè)系統(tǒng)
-
自動(dòng)夾雜物檢測(cè)顯微鏡系統(tǒng)
-
接觸角測(cè)量?jī)x自動(dòng)光學(xué)