簡介
Pin型樣品臺:FEI, TESCAN, Zeiss
直徑6/6.6/8/9.6/12.7/18/25/ 25.4/32/38/50/100mm
Pin/Pin45°/Pin45°/90° Pin70°Pin90°
JOEL 柱型樣品臺
直徑:9.5/10/12.2/12.5/15/25/32/50mm
JEOL角度型樣品臺:30°/45°/45°/90°/70°/90°
Hitachi柱型樣品臺M4螺孔
直徑:15/25/32/35/50mm
燈絲
鎢燈絲/LaB6燈絲
制樣用品
粘連用品
導電碳膠/導電銀膠/雙面導電碳膠/雙面導電銀膠
筆試鉆石刻刀,鉆石刀
可替換筆芯
標準樣品
放大倍率標樣,X射線標樣,SEM分辨率標樣,背散射、EDS能譜標樣、元素分析標樣
報價:面議
已咨詢51次SEM/TEM/FIB/X-ray耗材
報價:面議
已咨詢61次SEM/TEM/FIB/X-ray耗材
報價:面議
已咨詢42次SEM/TEM/FIB/X-ray耗材
報價:面議
已咨詢39次SPM耗材
報價:面議
已咨詢53次SPM耗材
報價:面議
已咨詢39次SPM耗材
報價:面議
已咨詢44次SPM耗材
報價:面議
已咨詢52次存儲
報價:面議
已咨詢58次SEM/TEM/FIB/X-ray耗材
報價:¥1
已咨詢5131次電鏡耗材
報價:面議
已咨詢2185次SEM掃描電鏡
報價:面議
已咨詢2211次SEM掃描電鏡
報價:面議
已咨詢1643次場發射電鏡
報價:面議
已咨詢3587次報價:面議
已咨詢400次金屬材料
報價:面議
已咨詢822次鎢燈絲電鏡
電子束曝光指利用聚焦電子束在光刻膠上制造圖形的工藝 , 是光刻工藝的延伸應用 。 電子束曝光系統是實現電子束曝光 技術的硬件平臺,系統的性能決定了曝光工藝關鍵尺寸、拼接和套刻精度等參數。
我們的SERS基底采用創新技術制造,使您可以進行SERS快速和重復測量,從而對SERS活性的樣品進行定性分析和定量分析。
GGB行業,一系列校準基板允許用戶校準多種GGB 行業的Picoprobe?探頭尖端。測量系統校準的基本原理是提供測量系統可以連接到的精確已知標準。