BeNano 180 納米粒度分析儀
背向光散射探測技術
適用于檢測寬泛的樣品粒度
產品介紹
BeNano 180 納米粒度分析儀是丹東百特儀器公司開發的采用背向散射技術用于檢測納米顆粒粒度及其分布的光學檢測系統。它基于動態光散射原理，樣品分散在樣品池中，通過激光照射到樣品上，光電檢測器在背向 173°角檢測樣品顆粒布朗運動造成的散射光強隨時間的波動，再通過相關器進行自相關運算得出樣品的自相曲線，結合數學方法就可以得到顆粒的擴散系數，進一步利用斯托克斯-愛因斯坦方程就得到樣品的粒度結果。
基本性能指標
粒徑檢測
? 粒徑范圍：0.3 nm–10 μm
? 最小樣品量：40 μL
? 檢測角度：173°
? 分析算法：Cumulants、通用模式、CONTIN、NNLS
分子量測試
分子量范圍：342 Da – 2 x 107 Da
微流變測試
測試能力：均方位移、復數模量、彈性模量、粘性模量、蠕變柔量
趨勢測試
模式：時間和溫度
系統參數
? 溫控范圍：-15°C - 120°C
? 冷凝控制：干燥空氣或者氮氣
? 標準激光光源：50 mW 高性能固體激光器， 671nm
? 相關器：快、中、慢多模式，最快25ns采樣，最多4000通道，1011動態線性范圍
? 檢測器：APD（高性能雪崩光電二極管）
? 光強控制：0.0001% - 100%，手動或者自動
檢測參數
? 流體力學尺寸 Dh
? 分布系數 PD.I
? 擴散系數 D
? 顆粒間相互作用力因子kd
? 顆粒體系的光強、體積、面積和數量分布
? 計算分子量
? 溶液粘度和折射率
? 流變學信息G*，G‘，G“，η*，J
檢測技術
? 動態光散射
? 靜態光散射
選配件
? 動靜態流動模式
BeNano動靜態流動模式（Flow Mode）是將納米粒度及Zeta電位儀同一個分離前端（FFF、GPC/SEC）相連接。分離前端可以根據尺寸將樣品進行分離，依次流出。通過檢測每個流出組分的動態光散射信號和靜態光散射號，并結合分離前端的示差折光RI或者紫外UV信號，得到高分辨率且不依賴于計算模型的粒徑分布、分子量分布信息。
? 0°光電模塊
0°PD+CMOS模塊，分散液折射率，沉降法粒度和顆粒物濃度測試。
丹東百特儀器有限公司是中國著名的粒度儀器制造企業，主要產品是激光粒度分析儀、納米粒度及Zeta電位分析儀、顯微圖像粒度粒形分析儀等。產品銷售到全國34個省市區，還出口到美國、德國、韓國、日本、巴西、俄羅斯等92個國家和地區，性能指標達到國際一流水平。百特的目標是“造精品儀器，創國際品牌，做百年企業”，在此基礎上為用戶創造最大價值。
網址：http://www.bettersize.com
電話：400-655-8837
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