BeNano Zeta 電位分析儀
BeNano Zeta 電位分析儀
——電泳光散射和相位分析光散射技術測量 Zeta 電位
儀 器 簡 介
BeNano Zeta 電位分析儀是丹東百特儀器公司開發的測量顆粒體系 Zeta 電位的光學檢測系統。BeNano Zeta 系統基于電泳光散射原理，樣品分散在樣品池中，在樣品池兩端施加一個電場，通過激光照射到電場中的樣品上，光電檢測器在 12°角檢測樣品顆粒電泳運動造成的散射光的多普勒頻移，進而得到體系的 Zeta 電位信息。
指標與性能
Zeta 電位測試
技術：相位分析光散射
檢測角度：12°
Zeta 范圍：無實際限制
電泳遷移率范圍：> ±20 μm.cm/v.s
電導率范圍：0 – 260 mS/cm
Z小樣品量：0.75 mL – 1.0 mL
Zeta 測試粒徑范圍：2 nm – 110 μm
系統參數
溫控范圍：-10° C - 110° C，精度 ±0.1° C
激光光源：50 mW 高性能固體激光器， 671 nm
相關器：Z多 4000 通道，1011 動態線性范圍
檢測器：APD ，高性能雪崩光電二極管
光強控制：0.0001% - 100%，手動或自動
*取決于樣品和選件
原理圖
儀器檢測
檢測參數
Zeta 電位
Zeta 電位分布
檢測技術
電泳光散射
相位分析光散射
相關產品
全部評論(0條)
推薦閱讀
-
- BeNano 90 Zeta 納米粒度及 Zeta 電位分析儀
- BeNano 90 Zeta 納米粒度及 Zeta 電位分析儀
-
- BeNano 180 Zeta 納米粒度及Zeta電位分析儀
- BeNano 180 Zeta 納米粒度及Zeta電位分析儀
-
- BeNano 90 Zeta 納米粒度及Zeta電位分析儀
- BeNano 90 Zeta 納米粒度及Zeta電位分析儀
-
- BeNano 180 Zeta Pro 納米粒度及 Zeta 電位分析儀
- BeNano 180 Zeta Pro 納米粒度及 Zeta 電位分析儀
-
- BeNano 180 Zeta Pro 納米粒度及 Zeta 電位分析儀
- BeNano 180 Zeta Pro 納米粒度及 Zeta 電位分析儀
-
- BeNano 180 Zeta Pro 納米粒度及 Zeta 電位分析儀
- BeNano 180 Zeta Pro 納米粒度及 Zeta 電位分析儀
-
- BeNano 180 Zeta Max納米粒度及Zeta電位分析儀
- BeNano 180 Zeta Max納米粒度及Zeta電位分析儀
-
- BeNano 180 Zeta Pro 納米粒度及Zeta電位分析儀
- BeNano 180 Zeta Pro 納米粒度及Zeta電位分析儀
-
- zeta電位分析儀故障
- 本文將對Zeta電位分析儀的常見故障進行分析，幫助用戶更清楚地了解這些問題的成因及解決方法，以便在設備出現異常時能夠迅速判斷問題并采取相應的修復措施。
-
- zeta電位分析儀選購技巧
- 為了幫助科研人員和實驗室在選購zeta電位分析儀時做出佳決策，本文將詳細探討選擇時需要考慮的關鍵因素，包括儀器性能、樣品適配性、成本效益以及供應商的技術支持與服務。
-
- zeta電位分析儀測粒徑步驟
- 本文將詳細介紹如何使用Zeta電位分析儀進行粒徑測量的完整步驟，涵蓋準備工作、操作流程、數據分析與結果解讀。
-
- 馬爾文zeta電位分析儀原理
- 本文將深入解析馬爾文Zeta電位分析儀的核心工作機制及其在實際應用中的重要性，為科研及工業生產提供科學指導。
①本文由儀器網入駐的作者或注冊的會員撰寫并發布，觀點僅代表作者本人，不代表儀器網立場。若內容侵犯到您的合法權益，請及時告訴,我們立即通知作者，并馬上刪除。
②凡本網注明"來源：儀器網"的所有作品，版權均屬于儀器網，轉載時須經本網同意，并請注明儀器網(www.yosen.net.cn)。
③本網轉載并注明來源的作品，目的在于傳遞更多信息，并不代表本網贊同其觀點或證實其內容的真實性，不承擔此類作品侵權行為的直接責任及連帶責任。其他媒體、網站或個人從本網轉載時，必須保留本網注明的作品來源，并自負版權等法律責任。
④若本站內容侵犯到您的合法權益，請及時告訴,我們馬上修改或刪除。郵箱：hezou_yiqi
濟南辰馳試驗儀器有限公司
滬公網安備 31011502008050號
參與評論
登錄后參與評論