原子力顯微鏡樣品制備有何要求
原子力顯微鏡,英文簡稱AFM,主要由帶針尖的微懸臂、微懸臂運動檢測裝置、監(jiān)控其運動的反饋回路、使樣品進行掃描的壓電陶瓷掃描器件、計算機控制的圖像采集、顯示及處理系統(tǒng)組成。可用來研究包括絕緣體在內(nèi)的固體材料表面結(jié)構(gòu)。具有接觸模式、非接觸模式和敲擊模式3種操作模式。
原子力顯微鏡具有以下特點:
1、與傳統(tǒng)的電子顯微鏡,特別是掃描電子顯微鏡相比,具有非常高的橫向分辨率和縱向分辨率。橫向分辨率可達到0.1~0.2nm,縱向分辨率高達0.01nm。
2、具有很寬的工作范圍,可以在諸如真空、高溫、常溫、低溫以及液體環(huán)境下掃描成像。
3、具有對樣品的分子或原子進行加工的力行為。
4、樣品制備簡單,原子力顯微鏡所觀察的標本不需要包埋、覆蓋、染色等處理,可以直接觀察。原子力顯微鏡樣品如何制備,有何要求?下面簡單介紹下:
①粉末樣品:粉末樣品的制備常用的是膠紙法,先把兩面膠紙粘貼在樣品座上,然后把粉末撒到膠紙上,吹去粘貼在膠紙上的多余粉末即可。
②塊狀樣品:玻璃、陶瓷及晶體等固體樣品需要拋光,注意固體樣品表面的粗糙度。
③液體樣品:液體樣品的濃度不能太高,否則粒子團聚會損傷針尖。
標簽:原子力顯微鏡
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