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2025-01-26 14:27:53顯微紅外光譜: 顯微紅外光譜是一種將顯微鏡與紅外光譜儀相結(jié)合的分析技術(shù)。它利用紅外光與物質(zhì)相互作用產(chǎn)生的吸收、透射或反射等現(xiàn)象，獲取樣品在微米級(jí)尺度上的化學(xué)組成與結(jié)構(gòu)信息。該技術(shù)具有高靈敏度、高分辨率及非破壞性等優(yōu)點(diǎn)，廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、生物醫(yī)學(xué)、文物保護(hù)等領(lǐng)域，為微區(qū)成分分析與鑒定提供了強(qiáng)有力的手段。

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Quantum Design中國(guó)子公司 235
2020-03-06

顯微紅外光譜文章

利用顯微紅外光譜技術(shù)分析化工產(chǎn)品-聚合物

顯微紅外光譜技術(shù)是一種結(jié)合紅外光譜分析和顯微鏡成像的先進(jìn)技術(shù)，具有高靈敏度、高分辨率和高準(zhǔn)確性的特點(diǎn)。這種技術(shù)能夠在微觀(guān)尺度下對(duì)樣品進(jìn)行化學(xué)成分和結(jié)構(gòu)的分析，特別適用于聚合物等復(fù)雜材料的表征。

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2025-01-26
顯微紅外光譜
顯微紅外在紡織纖維檢測(cè)的應(yīng)用

顯微紅外光譜技術(shù)，作為現(xiàn)代分析化學(xué)的重要分支，其在紡織纖維檢測(cè)領(lǐng)域的應(yīng)用日益**，不僅提高了檢測(cè)的準(zhǔn)確性和效率，還為紡織材料科學(xué)研究提供了強(qiáng)有力的技術(shù)支撐。以下是對(duì)顯微紅外光譜技術(shù)在紡織纖維檢測(cè)中應(yīng)用

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2024-11-05
顯微紅外光譜
布魯克顯微紅外光譜儀測(cè)定淋洗類(lèi)化妝品中的塑料微珠

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2024-01-10
布魯克顯微顯微紅外光譜紅外光譜
布魯克顯微紅外光譜儀測(cè)定淋洗類(lèi)化妝品中的塑料微珠

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2023-12-08
布魯克顯微顯微紅外光譜紅外光譜
用顯微紅外光譜技術(shù)分析藥物不溶顆粒

不溶性微粒是外來(lái)物質(zhì)，粒徑一般在2~50μm之間，肉眼難以看見(jiàn)，它們可能由藥品生產(chǎn)、儲(chǔ)存、運(yùn)輸和臨床使用等過(guò)程的污染產(chǎn)生。這

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2025-01-13
顯微紅外

顯微紅外光譜產(chǎn)品

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顯微紅外光譜問(wèn)答

2025-04-23 14:15:19電子探針顯微分析方法有哪些？: 電子探針顯微分析方法電子探針顯微分析方法（Electron Probe Microanalysis, EPMA）是一種利用電子束與樣品相互作用原理來(lái)進(jìn)行元素分析和成分分析的技術(shù)。該技術(shù)廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、地質(zhì)學(xué)、冶金學(xué)等領(lǐng)域，是研究微觀(guān)結(jié)構(gòu)、元素分布以及樣品成分的關(guān)鍵工具。通過(guò)高精度的分析，電子探針顯微分析方法能夠提供極為詳盡的樣品元素信息，并為科學(xué)研究和工業(yè)應(yīng)用提供可靠的數(shù)據(jù)支持。本文將介紹電子探針顯微分析的基本原理、應(yīng)用領(lǐng)域及其優(yōu)勢(shì)。電子探針顯微分析的基本原理電子探針顯微分析方法基于電子束與樣品相互作用后產(chǎn)生的各種信號(hào)，如特征X射線(xiàn)、二次電子和背散射電子等。通過(guò)測(cè)量這些信號(hào)，能夠獲得樣品的元素組成和空間分布信息。具體來(lái)說(shuō)，電子探針顯微分析通過(guò)聚焦電子束在樣品表面激發(fā)特征X射線(xiàn)，這些X射線(xiàn)的能量與元素的原子結(jié)構(gòu)相對(duì)應(yīng)，因此可以通過(guò)對(duì)X射線(xiàn)進(jìn)行能量分析來(lái)確定樣品中各元素的種類(lèi)和含量。在實(shí)際操作中，電子束的能量通常設(shè)置在10-30kV之間，能夠深入樣品的表面層并激發(fā)X射線(xiàn)。這些X射線(xiàn)的強(qiáng)度與樣品中相應(yīng)元素的濃度成正比，通過(guò)對(duì)X射線(xiàn)譜圖的定量分析，研究人員可以精確地測(cè)定元素的分布和含量。電子探針顯微分析的應(yīng)用領(lǐng)域材料科學(xué) 電子探針顯微分析技術(shù)在材料科學(xué)中有著廣泛應(yīng)用。尤其是在金屬合金、陶瓷、復(fù)合材料等的成分分析中，EPMA能夠提供高空間分辨率和定量分析能力。通過(guò)對(duì)材料微觀(guān)結(jié)構(gòu)的研究，科學(xué)家們可以了解材料的性能、相變以及在不同條件下的行為，從而優(yōu)化材料的設(shè)計(jì)和性能。地質(zhì)學(xué) 在地質(zhì)學(xué)研究中，電子探針顯微分析方法被廣泛應(yīng)用于礦物學(xué)和巖石學(xué)研究。通過(guò)分析礦物和巖石樣品的元素組成，EPMA能夠幫助地質(zhì)學(xué)家解讀地質(zhì)過(guò)程、巖漿活動(dòng)、礦產(chǎn)資源的成因以及沉積環(huán)境等信息，為資源勘探和環(huán)境保護(hù)提供有力支持。生命科學(xué) 在生物醫(yī)學(xué)領(lǐng)域，電子探針顯微分析也有著重要的應(yīng)用。通過(guò)對(duì)細(xì)胞和組織樣本進(jìn)行元素分析，研究人員可以探索生物體內(nèi)微量元素的分布，幫助揭示生物體的代謝過(guò)程和疾病機(jī)制。例如，通過(guò)EPMA分析癌細(xì)胞與正常細(xì)胞中的元素差異，有助于癌癥早期診斷和策略的優(yōu)化。電子探針顯微分析的優(yōu)勢(shì) 與傳統(tǒng)的分析方法相比，電子探針顯微分析在空間分辨率和分析精度方面具有明顯優(yōu)勢(shì)。EPMA具有極高的空間分辨率，能夠?qū)ξ⒚咨踔良{米尺度的樣品進(jìn)行高精度分析，適用于復(fù)雜的微觀(guān)結(jié)構(gòu)研究。EPMA具備較強(qiáng)的元素分析能力，能夠?qū)Χ喾N元素進(jìn)行定性和定量分析，尤其適合于分析復(fù)雜樣品中的微量元素。EPMA分析無(wú)需對(duì)樣品進(jìn)行復(fù)雜的化學(xué)預(yù)處理，能夠直接在固體樣品表面進(jìn)行分析，具有較高的分析效率。總結(jié) 電子探針顯微分析方法是一項(xiàng)高精度的材料分析技術(shù)，憑借其的空間分辨率和元素分析能力，在多個(gè)領(lǐng)域發(fā)揮著重要作用。從材料科學(xué)到生命科學(xué)，EPMA技術(shù)為研究者提供了深入理解樣品成分和微觀(guān)結(jié)構(gòu)的強(qiáng)大工具。隨著技術(shù)的不斷進(jìn)步，電子探針顯微分析在科研和工業(yè)中的應(yīng)用前景將更加廣闊，并為推動(dòng)科技創(chuàng)新和產(chǎn)業(yè)發(fā)展作出更大的貢獻(xiàn)。

2024-03-05 17:21:07近紅外光譜解析實(shí)用指南: 求《近紅外光譜解析實(shí)用指南》

2024-11-19 15:40:45近紅外光譜分析儀有哪些分類(lèi)？: 近紅外光譜分析儀主要分為固定波長(zhǎng)濾光片型、光柵掃描型、傅里葉變換型（FT-NIR）和聲光可調(diào)濾光器型（AOTF）。每種類(lèi)型都有其特定的應(yīng)用場(chǎng)景和優(yōu)勢(shì)，如光柵掃描型適用于需要高信噪比和分辨率的場(chǎng)合，而FT-NIR則以其高分辨率和掃描速度受到青睞。

2022-09-26 14:33:37熒光顯微系統(tǒng)的新高度——Luminosa單光子計(jì)數(shù)共聚焦顯微: 過(guò)去的幾十年中，德國(guó)PicoQuant的研發(fā)人員一直致力于制造最具定量性和重復(fù)性的時(shí)間分辨熒光顯微鏡系統(tǒng)?，F(xiàn)在他們終于邁出了這一步，完成了一套更易于使用、且不影響靈敏度的系統(tǒng)。該系統(tǒng)打破常規(guī)，無(wú)需培訓(xùn)物理學(xué)支持人員便可輕松使用。全新的Luminosa可以讓每個(gè)分子生物物理學(xué)或結(jié)構(gòu)生物學(xué)研究人員輕松地將單分子和時(shí)間分辨熒光顯微鏡的方法添加到他們的“工具箱”中。Luminosa系統(tǒng)的主要功能包括一鍵式自動(dòng)對(duì)準(zhǔn)程序和基于上下文的直觀(guān)工作流程。例如，系統(tǒng)可以自動(dòng)識(shí)別單個(gè)分子，或者它可以自動(dòng)確定單個(gè)分子FRET (smFRET) 的校正因子。對(duì)于經(jīng)驗(yàn)豐富的專(zhuān)家，它仍具有先進(jìn)的靈活性。所有光機(jī)組件均可訪(fǎng)問(wèn)，數(shù)據(jù)以開(kāi)放格式存儲(chǔ)，工作流程和圖形用戶(hù)界面均可定制。用戶(hù)可以完全訪(fǎng)問(wèn)實(shí)驗(yàn)參數(shù)，例如可調(diào)節(jié)的觀(guān)察量。全新的Luminosa本身就是一套時(shí)間分辨熒光顯微的多功能“工具箱”。它用于單分子水平的動(dòng)態(tài)結(jié)構(gòu)生物學(xué)研究。這些方法包括熒光壽命成像 (FLIM)、用于快速過(guò)程的rapidFLIMHiRes、FLIM-FRET、單分子FRET（突發(fā)和時(shí)間跟蹤分析）、熒光相關(guān)光譜 (FCS)、各向異性成像和微分干涉對(duì)比 (DIC) 成像。隨著時(shí)間分辨熒光顯微技術(shù)的用戶(hù)群體不斷擴(kuò)大，對(duì)高重復(fù)性、高準(zhǔn)確性和寶貴實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)規(guī)則的需求變得尤為明顯。Luminosa已經(jīng)包含了科學(xué)家集體努力制定的經(jīng)驗(yàn)指南，例如來(lái)自于單分子FRET群體在基準(zhǔn)研究中的經(jīng)驗(yàn)指南。Luminosa 是一款將超高數(shù)據(jù)質(zhì)量與超簡(jiǎn)日常操作相結(jié)合的單光子計(jì)數(shù)共聚焦顯微鏡。它可以輕松集成到任何研究人員的“工具箱”中，成為開(kāi)始探索使用時(shí)間分辨熒光方法科學(xué)家以及想要突破極限專(zhuān)家的省時(shí)、可靠的“伙伴”。它是一個(gè)真正的顯微鏡系統(tǒng)，每個(gè)人都可以依賴(lài)。產(chǎn)品特點(diǎn)：◆ 全軟件控制共聚焦系統(tǒng)，基于倒置顯微鏡◆ 激光波長(zhǎng)從375到1064 nm可選◆ VarPSF：觀(guān)察量高精度調(diào)節(jié)，用于FCS和單分子FRET實(shí)驗(yàn)◆ 電動(dòng)平移臺(tái)，可在傳動(dòng)和FLIM模式下進(jìn)行“圖像拼接”◆ 掃描選項(xiàng)：FLIMbee振鏡掃描和壓電物鏡掃描◆ 最多可集成SPAD, PMT或Hybrid-PMT組成相互獨(dú)立的6通道探測(cè)單元◆

2023-07-25 10:40:14半導(dǎo)體和鈣鈦礦材料的高光譜（顯微）成像: 目前在光伏業(yè)界，正在進(jìn)行一項(xiàng)重大努力，以提高光伏和發(fā)光應(yīng)用中所用半導(dǎo)體的效率并降低相關(guān)成本。這就需要探索和開(kāi)發(fā)新的制造和合成方法，以獲得更均勻、缺陷更少的材料。無(wú)論是電致還是光致發(fā)光，都是實(shí)現(xiàn)這一目標(biāo)的重要工具。通過(guò)發(fā)光可以深入了解薄膜內(nèi)部發(fā)生的重組過(guò)程，而無(wú)需通過(guò)對(duì)完整器件的多層電荷提取來(lái)解決復(fù)雜問(wèn)題。HERA高光譜照相機(jī)是繪制半導(dǎo)體光譜成像的理想設(shè)備，因?yàn)樗軌蚩焖?、定量地繪制半導(dǎo)體發(fā)射光譜圖，且具有高空間分辨率和高光譜分辨率的特性。硅太陽(yáng)能電池的電致發(fā)光光譜成像光伏設(shè)備中的缺陷會(huì)導(dǎo)致光伏產(chǎn)生的載流子發(fā)生重組，阻礙其提取并降低電池效率。電致發(fā)光光譜成像可以揭示這些有害缺陷的位置和性質(zhì)。"反向"驅(qū)動(dòng)太陽(yáng)能電池（即施加電流）會(huì)產(chǎn)生電致發(fā)光，因?yàn)檩d流子在電極上被注入并在有源層中重新結(jié)合。在理想的電池中，所有載流子都會(huì)發(fā)生帶間重組，這在硅中會(huì)產(chǎn)生1100 nm附近的光（效率非常低）。然而，晶體結(jié)構(gòu)中的缺陷會(huì)產(chǎn)生其他不利的重組途徑。雖然這些過(guò)程通常被稱(chēng)為"非輻射"重組，但偶爾也會(huì)產(chǎn)生光子，其能量通常低于帶間發(fā)射。捕獲這些非常罕見(jiàn)的光子可以了解缺陷的能量和分布。在本實(shí)驗(yàn)中，我們使用了HERA SWIR (900-1700 nm)，它非常適合測(cè)量硅發(fā)光衰減。測(cè)量裝置如圖1所示：HERA安裝在三腳架上，在太陽(yáng)能電池上方，連接到一個(gè)10A的電源。640×512像素的傳感器安裝在樣品上方75厘米處，空間分辨率約為250微米。圖1. 實(shí)驗(yàn)裝置最重要的是，HERA光學(xué)系統(tǒng)沒(méi)有輸入狹縫，因此光通量非常高，是測(cè)量極微弱光發(fā)射的理想選擇。圖2.A和2.B顯示了兩個(gè)波長(zhǎng)的電致發(fā)光（EL）圖像：1150 nm（帶間發(fā)射）和1600 nm（缺陷發(fā)射），這是4次掃描的平均值（總采集時(shí)間：5分鐘）。通過(guò)分析這些圖像，我們可以看到，盡管缺陷區(qū)域的亮度遠(yuǎn)低于主發(fā)射區(qū)域，但它們?nèi)员磺逦胤直娉鰜?lái)。此外，具有強(qiáng)缺陷發(fā)射的區(qū)域的帶間發(fā)射相對(duì)較弱。我們可以注意到有幾個(gè)區(qū)域在兩個(gè)波長(zhǎng)下都是很暗的；這可能是由于樣品在運(yùn)輸過(guò)程中損壞了電池造成的。圖2.C中以對(duì)數(shù)標(biāo)尺顯示了小方塊感興趣區(qū)域（圖2A和2B中所示）的光譜。圖 2.A 和 B：兩個(gè)選定波長(zhǎng)（1150 nm 和 1600 nm）的電致發(fā)光（EL）圖像。C：A和B中三個(gè)不同區(qū)域?qū)?yīng)的電致發(fā)光光譜（圖像中的彩色方框）。金屬鹵化物鈣鈦礦薄膜的光致發(fā)光顯微研究通過(guò)旋涂等技術(shù)含量低、成本效益高的方法，可以制造出非常高效的太陽(yáng)能電池和LED。這些方法面臨的一個(gè)挑戰(zhàn)是在微觀(guān)長(zhǎng)度的尺度上保持均勻的成分。光致發(fā)光顯微鏡是表征這種不均勻性的一個(gè)特別強(qiáng)大的工具。HERA高光譜相機(jī)可以連接到任何顯微鏡（正置或倒置）的c-mount相機(jī)端口，并直接開(kāi)始采集高光譜數(shù)據(jù)，無(wú)需任何校準(zhǔn)程序。圖3. 與尼康LV100直立顯微鏡連接的HERA VIS-NIR。在本實(shí)驗(yàn)中，我們使用HERA VIS-NIR（400-1000 nm）耦合到尼康LV100直立顯微鏡（圖3）來(lái)表征兩種鹵化物前驅(qū)體合金的帶隙分布。將兩種鹵化物前驅(qū)體合金化的優(yōu)點(diǎn)是能夠調(diào)整材料的帶隙；然而，這兩種成分經(jīng)常會(huì)發(fā)生逆混合，從而導(dǎo)致性能損失。本實(shí)驗(yàn)的目的是檢測(cè)這種逆混合現(xiàn)象：事實(shí)上，混合比的局部變化會(huì)改變局部帶隙，從而導(dǎo)致發(fā)射不同能量的光子。在這種配置中，激發(fā)光來(lái)自汞燈，通過(guò)帶通濾光片在350 nm處進(jìn)行濾光，并通過(guò)發(fā)射路徑上的二向色鏡將其從相機(jī)中濾除。HERA的高通量使其能夠在大約1分鐘的測(cè)量時(shí)間內(nèi)收集完整的數(shù)據(jù)立方體（130萬(wàn)個(gè)光譜）。圖4.樣品的光譜綜合強(qiáng)度圖（A：全尺寸；B：放大）。圖4.A和4.B分別顯示了所有波長(zhǎng)（400-1000 nm）總集成信號(hào)的全尺寸和放大圖像，揭示了長(zhǎng)度尺度在1 μm左右的明亮特征。當(dāng)我們比較亮區(qū)和暗區(qū)的光譜時(shí)（圖5.B中的黑色和紅色曲線(xiàn)），我們發(fā)現(xiàn)暗區(qū)實(shí)際上也有發(fā)射，不僅強(qiáng)度較低，而且波長(zhǎng)中心比亮區(qū)短。事實(shí)上，光譜具有雙峰形狀，很可能與逆混合前驅(qū)體的發(fā)射相對(duì)應(yīng)。圖5.A的發(fā)射圖清楚地顯示了帶隙的這種變化。我們現(xiàn)在可以理解為什么低帶隙區(qū)域看起來(lái)更亮了--載流子可能從高帶隙區(qū)域弛豫到那里，并且在發(fā)生輻射重組之前無(wú)法返回。圖5.A：顯示平均發(fā)射波長(zhǎng)的強(qiáng)度圖。B：亮區(qū)和暗區(qū)的發(fā)射光譜（正常化）。東隆科技作為NIREOS國(guó)內(nèi)總代理公司，在技術(shù)、服務(wù)、價(jià)格上都具有優(yōu)勢(shì)。如果您有任何產(chǎn)品相關(guān)的問(wèn)題，歡迎隨時(shí)來(lái)電垂詢(xún)，我們將為您提供專(zhuān)業(yè)的技術(shù)支持與產(chǎn)品服務(wù)。