- 2025-01-21 09:29:54低溫真空探針
- 低溫真空探針是一種在低溫及真空環境下進行電學測量和納米操縱的工具。它結合了低溫技術和真空技術，能夠在極端條件下對材料或器件進行精確的電學性能測試。探針具有高靈敏度、高分辨率的特點，適用于納米電子學、超導材料、半導體器件等領域的研究。通過低溫真空探針，科學家能夠深入探索材料的電學性質，推動納米科學和技術的進步。
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低溫真空探針資訊
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- 超高真空低溫掃描探針顯微鏡系統 招標項目的潛在投標人應在南京市長江路198號14樓獲取招標文件，并于2025年06月17日 09點30分（北京時間）前遞交投標文件。
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低溫真空探針問答
- 2023-07-31 16:55:12微電容單通道叉指電極真空探針臺用途介紹
- 叉指微電極因其微小的電極間距結構，可用于各種小型化傳感器。對于傳統分析檢測，包括色譜法、光譜法、質譜等方法，大多都需要昂貴的儀器和多種操作步驟，使得許多實際問題仍面臨困難。開發高靈敏度、低成本、小型化的傳感器尤為重要。本文綜述了叉指微電極的研究進展，介紹了基于叉指微電極的傳感器在各領域的廣泛應用。 小型真空探針臺鄭科探 KT-Z4019MRL4T是一款性高價比配置的真空高低溫探針臺。高溫400℃ 低-196℃ 測試噪聲小于5E-13A 可擴展上下雙透視窗口用于光電測試 可擴展凹視鏡。公司致力于各類探針臺，（包括手動與自動探針臺、雙面探針臺、真空探針臺、）、顯微鏡成像、光電一體化的技術研發，擁有國內專業的技術研發團隊，在探針臺電學量測方面擁有近十年的經驗團隊。微電容單通道叉指電極探針臺微電容單通道叉指電極探針臺KT-Z4019MRL4T真空腔體類型高溫型室溫到400℃高低溫型 室溫到400℃ 室溫到-196℃腔體材質304不銹鋼 6061鋁合金 可選腔體內尺寸127mmX57mmX20mm腔體外尺寸150mmX80mmX32mm腔體重量不銹鋼材質 約1.5KG 鋁合金材質 約0.5KG腔體上視窗尺寸Φ42mm（可選配凹視窗用于減少窗口和樣品之間距離）腔體抽氣口KF16法蘭（其余接口規格可轉接）腔體真空測量口KF16法蘭（其余接口規格可轉接）腔體進氣口6mm快擰 或 6mm快插腔體冷卻方式腔體水冷+上蓋氣冷腔體水冷接口腔體正壓≤0.05MPa腔體真空度機械泵≤5Pa （5分鐘） 分子泵≤5E-3Pa（30分鐘）樣品臺樣品臺材質不銹鋼 銀銅合金 純銀塊銀銅合金 純銀塊樣品臺尺寸26x26mm樣品臺加熱方式電阻加熱電阻加熱 液氮制冷樣品臺-視窗 距離11mm（可選配凹視窗用于減少窗口和樣品之間距離到6mm）樣品臺測溫傳感器PT100型熱電阻樣品臺溫度室溫到400℃室溫到400℃ 室溫到-196℃樣品臺測溫誤差±0.5℃樣品臺升溫速率高溫100℃/min 值 低溫7℃/min溫控儀溫度顯示7寸人機界面溫控類型標準PID溫控 +自整定溫度分辨率0.1℃溫控精度±0.5℃溫度信號輸入類型PT100 （可選K S B型熱電偶）溫控輸出直流線性電源加熱直流線性電源加熱+液氮流速控制器輔助功能溫度數據采集并導出 實時溫度曲線+歷史溫度曲線 可擴展真空讀數接口溫控器尺寸32cmX170cmX380cm溫控器重量約5.6KG探針電信號接頭配線轉接 BNC接頭 BNC三同軸接頭 SMA 接頭 香蕉插頭 線長1.2米電學性能絕緣電阻 ≥4000MΩ 介質耐壓 ≤200V 電流噪聲 ≤10pA探針數量4探針（可擴展5探針）探針材質鍍金鎢針 （其他材質可選）探針尖10μm手動探針移動平臺X軸移動行程20mm ±10mm（需手動推動滑臺）X軸控制精度≥500μmR軸移動行程120° ±60°（需手動旋轉探針桿）R軸控制精度≥500μmZ軸移動行程2mm ±1mmZ軸控制精度≤50μm（需手動螺紋調節探針桿）
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- 2025-04-23 14:15:17接觸角測量儀探針怎么調
- 接觸角測量儀探針的調整是確保測量精度和儀器性能的關鍵步驟。在進行接觸角測量時，探針的正確調整可以顯著影響測量結果的準確性與一致性。本文將詳細介紹如何調節接觸角測量儀的探針，以確保測量過程中各項參數的佳配置，并幫助用戶避免常見的操作失誤。通過正確的操作，不僅能提高測量效率，還能延長儀器的使用壽命。因此，掌握探針調整的技巧，對每一位使用接觸角測量儀的工程師和技術人員來說，都是至關重要的。 接觸角測量儀探針的調整通常涉及多個方面，其中包括探針的垂直度、位置以及與樣品表面接觸的角度。為了確保探針能夠精確地接觸到樣品表面，必須調整儀器的探針支撐架。通過調節支撐架的角度和高度，可以保證探針始終與樣品表面垂直，從而減少因角度不準確引起的測量誤差。 接觸角測量儀的探針必須精確定位，以確保每次實驗中探針與液滴接觸的條件一致。通常，這需要通過微調螺絲來實現精細定位，確保探針的每次接觸位置不會偏離設定的標準位置。如果探針位置發生偏差，液滴的分布情況將不均勻，從而影響接觸角的準確度。 在進行探針調整時，還需要考慮環境因素對測量結果的影響，例如溫度、濕度以及空氣流動等。任何這些因素的變化都可能導致測量值的波動。因此，在調節探針時，確保操作環境穩定，也是確保接觸角測量結果準確性的重要步驟。 接觸角測量儀探針的調節是確保實驗數據可靠性的基礎。通過合理的調整方法和操作技巧，能夠有效地提高測量精度，并保證每次實驗結果的一致性。在實際操作中，專業人員應根據儀器的具體要求和操作手冊，謹慎調整探針的各項參數，避免因不當調整導致測量誤差。
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- 2023-07-08 15:42:40真空高低溫探針臺 用于傳感器 半導體 光電集成電路以及封裝的測試
- 型號 KT-0904T-RL 加熱制冷 KT-0904T 不帶加熱制冷 KT-0904T-R 加熱 類型 加熱型 400℃ 加熱制冷型室溫到-190℃-350℃ 低溫型：室溫到-190℃ 腔體材質 304 不銹鋼 腔體內尺寸 φ90x40mm 腔體上視窗尺寸 Φ42mm（選配凹視窗Φ22mm） 腔體抽氣口 KF16 腔體進氣口 公制 3mm 6mm 氣管接頭 英制 1/8mm 1/4mm 氣管接頭可選 腔體出氣口 公制 3mm 6mm 氣管接頭 英制 1/8mm 1/4mm 氣管接頭可選 腔體正壓 ≤0.05MPa 腔體真空度 機械泵≤5Pa （5 分鐘） 分子泵≤5E-3Pa（30 分鐘） 樣品臺 樣品臺材質 304 不銹鋼 樣品臺尺寸 26X26mm 樣品臺-視窗 距離 30mm（可選凹視窗間距 15mm） 樣品臺測溫傳感器 A 級 PT100 鉑電阻 樣品臺溫度 室溫到 350℃（可選高低溫樣品臺 高溫 350℃低溫-190℃） 樣品臺測溫誤差 ±0.2℃ 樣品臺變溫速率 高溫 10℃/min 低溫 5℃/min 溫控儀
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- 2025-05-19 11:15:18掃描探針顯微鏡用哪些激光
- 掃描探針顯微鏡用哪些激光 掃描探針顯微鏡（SPM）是一種高精度的表面成像與分析工具，廣泛應用于材料科學、生物學、納米技術等多個領域。為了實現高分辨率的表面成像與測量，掃描探針顯微鏡通常需要結合激光技術。不同類型的激光在掃描探針顯微鏡中的應用，可以提高圖像分辨率、增強信號強度、或者實現特定的實驗功能。本文將深入探討掃描探針顯微鏡中常用的激光類型，以及它們各自的特點和應用場景。 激光在掃描探針顯微鏡中的作用 掃描探針顯微鏡的工作原理是通過探針與樣品表面之間的相互作用來獲取表面信息。激光在這一過程中，通常用于提供激發信號或是增強探針的反饋信號。通過激光激發，掃描探針顯微鏡能夠高效地獲取表面形貌、物質分布等信息。在使用不同波長的激光時，顯微鏡的解析度和靈敏度可以得到相應的提升，因此選擇合適的激光源是實驗成功的關鍵之一。 常用激光類型 氦氖激光（HeNe激光） 氦氖激光是一種常見的單色激光，具有較長的波長（通常為632.8納米），適用于表面成像及拉曼光譜等技術。其優點在于穩定性強、成本相對較低，是早期掃描探針顯微鏡的常用激光。 氬離子激光（Ar+激光） 氬離子激光通常具有較短的波長（如488納米和514納米），能夠提供更高的光強，適用于熒光成像、光散射等高分辨率成像應用。在掃描探針顯微鏡中，氬離子激光常用于納米尺度的表面特性分析。 二氧化碳激光（CO2激光） 二氧化碳激光的波長較長（約10.6微米），常用于熱力學性質的研究。在一些需要加熱或表面化學反應的掃描探針顯微鏡實驗中，CO2激光能夠提供有效的能量源，促進樣品的熱響應。 半導體激光（Diode激光） 半導體激光因其調節性強、體積小、成本較低而廣泛應用于掃描探針顯微鏡中。根據波長的不同，半導體激光可以為不同的實驗提供所需的光源。它們常用于光譜分析、近場光學顯微成像等高精度實驗中。 激光的選擇與應用 選擇合適的激光源通常取決于實驗的具體需求。波長的選擇直接影響到激發信號的效率與樣品的響應，因此不同的激光類型適用于不同的研究場景。例如，在進行生物樣品的熒光成像時，氬離子激光由于其較短的波長和高強度光源，經常被用于激發熒光信號。而在進行納米尺度的材料分析時，氦氖激光由于其穩定性和較低的功率常常被選用。 激光的光束質量和功率穩定性也至關重要。掃描探針顯微鏡中的激光源需要具有良好的光束質量，以保證高精度的表面成像。穩定的功率輸出能確保實驗結果的可重復性。 總結 掃描探針顯微鏡作為一種高精度的納米級分析工具，其性能在很大程度上依賴于激光源的選擇。不同波長和特性的激光能夠為各種實驗提供理想的激發源，從而提高成像分辨率、增強信號強度，或實現特定的實驗目標。隨著技術的發展，激光技術在掃描探針顯微鏡中的應用將更加廣泛和多樣化，這對于推動納米技術和表面科學的研究具有重要意義。
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- 2025-05-19 11:15:19掃描探針顯微鏡有哪幾類
- 掃描探針顯微鏡（SPM）是一種在納米尺度上觀察和研究物質表面的先進儀器。通過利用探針與樣品表面相互作用，掃描探針顯微鏡可以提供極高的空間分辨率，使其在物理、化學、生命科學等多個領域都得到廣泛應用。本文將探討掃描探針顯微鏡的幾種主要類型，分析它們的工作原理、應用領域以及各自的優勢與局限。了解這些不同類型的掃描探針顯微鏡，有助于選擇適合特定研究需求的工具。 一、原子力顯微鏡（AFM） 原子力顯微鏡（Atomic Force Microscope, AFM）是掃描探針顯微鏡中為常見的一種。其工作原理是通過一根微小的探針掃描樣品表面，并測量探針與表面之間的相互作用力。這種顯微鏡能夠實現高分辨率的表面形貌成像，特別適用于樣品表面形態、機械性能以及納米尺度的力學特性分析。 AFM不僅可以在真空、空氣以及液體環境中操作，而且它的分辨率能夠達到亞納米級，廣泛應用于材料科學、納米技術以及生物學領域。在生物醫學中，AFM被用于觀察細胞表面、蛋白質及DNA分子的形態與結構。 二、掃描隧道顯微鏡（STM） 掃描隧道顯微鏡（Scanning Tunneling Microscope, STM）是由物理學家吉爾伯特·諾思（Gerd Binnig）和海因茨·羅斯（Heinz Rohrer）于1981年發明的，它能夠對導電材料的表面進行原子級的成像。STM通過探針與樣品表面之間的量子隧道效應來實現表面成像。當探針接近樣品表面時，電流會發生變化，探測到的電流變化與表面原子排列密切相關，從而實現高分辨率成像。 STM的主要優點是其超高的空間分辨率，能夠達到單個原子的水平，適用于研究導電材料的電子結構、表面缺陷以及原子尺度的自組裝現象。STM只能用于導電材料的成像，對于絕緣體的研究則存在一定的限制。 三、掃描近場光學顯微鏡（SNOM） 掃描近場光學顯微鏡（Scanning Near-field Optical Microscope, SNOM）是一種結合了光學和掃描探針顯微鏡技術的設備。與傳統的光學顯微鏡不同，SNOM能夠突破光的衍射極限，實現納米級的光學分辨率。它通過將光纖探針放置在樣品表面附近，利用近場光學效應進行成像。 SNOM具有獨特的優勢，可以在納米尺度下探測光學信息，廣泛應用于生物分子、納米光子學和表面等離子體研究。由于其能夠在不破壞樣品的前提下獲得光學信息，SNOM對于材料科學和生物醫學領域有著重要的應用價值。 四、掃描熱針顯微鏡（SThM） 掃描熱針顯微鏡（Scanning Thermal Probe Microscopy, SThM）是一種測量樣品表面溫度分布的掃描探針顯微鏡。它利用熱探針與樣品表面之間的溫差，來測量熱導率、局部溫度以及熱性能等信息。SThM在研究納米尺度下的熱傳導和熱管理方面具有重要的應用價值，尤其在半導體和微電子設備的熱分析中發揮著重要作用。 SThM的優勢在于其能夠以納米級別的空間分辨率研究材料的熱性質，能夠提供更為細致的熱動態分析，適用于電子、光學和材料領域。 五、掃描電化學顯微鏡（SECM） 掃描電化學顯微鏡（Scanning Electrochemical Microscope, SECM）結合了掃描探針顯微鏡和電化學技術，可以在納米尺度上進行電化學測量。通過探針與樣品表面間的電化學反應，SECM能夠實時監測表面電位、反應速率以及電流變化等。它在研究電極反應、傳質過程以及腐蝕行為等方面具有獨特的優勢。 SECM被廣泛應用于能源、環境和材料科學領域，尤其在電池研究和傳感器開發中，起到了重要的作用。 總結 掃描探針顯微鏡是一類高度精密的工具，各種類型的掃描探針顯微鏡在不同的研究領域中都有著獨特的優勢。無論是原子力顯微鏡、掃描隧道顯微鏡、掃描近場光學顯微鏡，還是掃描熱針顯微鏡和掃描電化學顯微鏡，它們都提供了不同的研究角度和技術手段，為科學家們探索納米世界的奧秘提供了強大的支持。在實際應用中，選擇合適的掃描探針顯微鏡類型，能夠更加地滿足研究需求，推動科技創新的不斷發展。
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