LAS X 晶粒度專家為鋼材及其他材料的快速結構分析提供了高效環境。

該徠卡軟件擁有直觀易學的工作流程，可引導用戶完成各個分析步驟。利用高 精度邊緣檢測算法，可研究多種結構及樣本截面類型。

該軟件模塊還包含傳統的體視學方法，如海恩線性截距法、杰弗里斯平面測量 法或艾布拉姆斯三圓法。這些方法完全自動應用，從而直接計算出晶粒度。

傳統的體視學方法采用一維方式來近似估算晶粒度，存在一定局限，而LAS X晶 粒度專家則采用特定的二維算法直接測量晶粒面積。與傳統方法和非數字方法 相比，這種獨特的方法具有更高的準確性。

標簽：LAS X晶粒度