產品性能:

少子壽命測試儀性能參數：

測量原理： QSSPC（準穩態光電導）；
少子壽命測量范圍： 100 ns-10 ms；
測試模式：QSSPC,瞬態，壽命歸一化分析；
電阻率測量范圍： 3600 (undoped) Ohms/sq.；
注入范圍：10¹³-10¹⁶cm^-3；
感測器范圍： 直徑40-mm；
測量樣品規格 標準直徑: 40210 mm （或更小尺寸）；
硅片厚度范圍： 102000 μm；
外界環境溫度： 20°C25°C；
功率要求： 測試儀: 40W， 電腦控制器：200W ，光源：60W；
通用電源電壓： 100240 VAC 50/60 Hz；

主要特點:
　　適應低電阻率樣片的測試需要，最小樣品電阻率可達0.1ohmcm
　　全自動操作及數據處理
　　對太陽能級硅片，測試前一般不需鈍化處理
　　能夠測試單晶或多晶硅棒、片或硅錠
　　可以選擇測試樣品上任意位置
　　能提供ZL的表面化學鈍化處理方法
　　對各道工序的樣品均可進行質量監控：
　　硅棒、切片的出廠、進廠檢查
　　擴散后的硅片
　　表面鍍膜后的硅片以及成品電池

少子壽命測試儀

技術參數：

FAQ:

用途、光伏,硅片檢測

包裝、紙質包裝

售后服務:一年保修,終身維護

用途、光伏測試

包裝、紙質包裝

售后服務

一年保修