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HORIBA 納米粒度/Zeta電位分析儀 SZ-100
- 品牌:堀場(chǎng)
- 型號(hào): SZ-100
- 產(chǎn)地:亞洲 日本
- 供應(yīng)商報(bào)價(jià):面議
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HORIBA 科學(xué)儀器事業(yè)部
更新時(shí)間:2025-05-08 14:03:48
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銷(xiāo)售范圍售全國(guó)
入駐年限第10年
營(yíng)業(yè)執(zhí)照
- 同類(lèi)產(chǎn)品其它光譜儀(4件)
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詳細(xì)介紹
儀器簡(jiǎn)介:
SZ-100 是 HORIBA Scientific zuixin推出的納米粒子解析裝置,可更高靈敏度、高精度地評(píng)價(jià)單一納米粒子,并能完全解析納米粒子的物質(zhì)結(jié)構(gòu)。該儀器被廣泛應(yīng)用于陶瓷粒子、金屬納米粒子、石炭、制藥、病毒、顏料和涂料、化妝品、聚合物、食品和 CMP 等的檢測(cè)。
高靈敏度、高精度的測(cè)量
全方位表征單一體系納米尺度粒子
完全解析納米粒子的物質(zhì)結(jié)構(gòu)應(yīng)用范圍
● 陶瓷粒子 ● 金屬納米粒子 ● 碳黑 ● 制藥 ● 病毒 ● 涂料
● 化妝品 ● 聚合物 ● 食品 ● CMP● 顏料、油墨
技術(shù)參數(shù):粒子直徑測(cè)定
● 超寬動(dòng)態(tài)光散射測(cè)量范圍: 0.3nm~8000nm
●通過(guò)采用與NEDO國(guó)家項(xiàng)目共同開(kāi)發(fā)的相關(guān)器,實(shí)現(xiàn)高性能化。
●在單一納米粒子專(zhuān)用光學(xué)系統(tǒng)中,采用更低雜散光90°檢測(cè)光學(xué)系統(tǒng)。
●雙光路系統(tǒng)(90°和173°)適用于更寬濃度范圍的樣品測(cè)量,可以進(jìn)行釉漿、顏料等高濃度樣品以及膠束、聚合物等低濃度樣品的測(cè)定。Zeta電位測(cè)定
●通過(guò)安裝HORIBA自主研發(fā)的標(biāo)準(zhǔn)微型樣品池,可以測(cè)定僅100μL的樣品。
主要特點(diǎn):●超小體積設(shè)計(jì)
● 可測(cè)納米粒子的三個(gè)重要要素粒子直徑、Zeta電位和分子量。
●樣品濃度從PPM到百分之幾十,SZ-100都能在原液狀態(tài)下取樣和測(cè)定。
●HORIBA自主研發(fā)的微量電泳樣品池, 可以測(cè)定僅100μL的Zeta電位。
●廣泛應(yīng)用于膠質(zhì)粒子、 機(jī)能性納米粒子、 高分子、膠束、 核糖體、 納米囊等的測(cè)定。
●操作簡(jiǎn)單,進(jìn)樣、設(shè)定參數(shù)后,只要按開(kāi)始按鈕即可得到測(cè)量結(jié)果。技術(shù)資料