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BeNano 90 Zeta納米粒度及Zeta電位分析儀

品牌：丹東百特
型號： BeNano 90 Zeta
產地：遼寧丹東
供應商報價：面議

丹東百特儀器有限公司更新時間：2025-06-04 08:09:34

銷售范圍售全國

入駐年限第10年

營業執照已審核

同類產品激光粒度分析儀(8件)

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BeNano 90 Zeta納米粒度及Zeta電位分析儀核心參數

粒徑范圍	0.3nm ~ 15μm*	測量分辨率	2.5-3倍粒徑
重復性	±1%	分散方式	自動分散

產品特點

BeNano 系列納米粒度電位儀是丹東百特儀器有限公司全新開發的測量納米顆粒粒度和Zeta電位的光學檢測系統。該系統中集成了動態光散射DLS、電泳光散射ELS和靜態光散射技術SLS，可以準確的檢測顆粒的粒徑及粒徑分布，Zeta電位，高分子和蛋白體系的分子量信息等等參數，可廣泛的應用于化學、化工、生物、制藥、食品、材料等等領域的基礎研究和質量分析質量控制用途。

詳細介紹

產品簡介

BeNano 90 Zeta 納米粒度及 Zeta電位分析儀是 BeNano 90 + BeNano Zeta 二合一的光學檢測系統。該系統中集成了動態光散 DLS、電泳光散射 ELS 和靜態光散射技術 SLS，可以準確的檢測顆粒的粒徑及粒徑分布，Zeta 電位，高分子和蛋白體系的分子量信息等參數，可廣泛的應用于化學、化工、生物、制藥、食品、材料等領域的基礎研究和質量分析與控制。

基本性能指標

粒徑檢測

原理	動態光散射技術
粒徑范圍	0.3 nm – 15 μm
樣品量	3 μL – 1 mL
檢測角度	90 ° + 12°
分析算法	Cumulants、通用模式、CONTIN、NNLS

Zeta電位測試

原理	相位分析光散射技術
檢測角度	12°
Zeta范圍	無實際限制
電泳遷移率范圍	＞±20 μm.cm/V.s
電導率范圍	0 - 260 mS/cm
Zeta測試粒徑范圍	2 nm – 120 μm

分子量測試

分子量范圍

342 Da – 2 x 10⁷ Da

微流變測試

頻率范圍	0.2 – 1.3 x 10⁷rad/s
測試能力	均方位移、復數模量、彈性模量、粘性模量、蠕變柔量

折光率和粘度測試

粘度范圍	0.01 cp – 100 cp
折光率范圍	1.3-1.6

趨勢測試

時間和溫度

系統參數

溫控范圍	-15°C - 110°C ，精度±0.1℃
冷凝控制	干燥空氣或者氮氣
標準激光光源	50 mW 高性能固體激光器， 671 nm
相關器	≥25 ns采樣，≤ 4000通道，10¹¹動態線性范圍
檢測器	APD （高性能雪崩光電二極管）
光強控制	0.0001% - 100%，手動或者自動