顯微鏡載玻片Nunc? 顯微鏡載玻片
ChemTron MBL3300 反射光顯微鏡（冶金業(yè)）
ChemTron MBL2000 雙目鏡系列顯微鏡
ChemTron MBL3200 專業(yè)型雙目鏡顯微鏡
ChemTron MML 單目鏡系列顯微鏡
產(chǎn)品簡介：
原子力顯微鏡WY-6800AFM是原子力顯微鏡WY-6600AFM的升級，增加了針對標(biāo)記區(qū)域掃描提供準(zhǔn)確的定位系統(tǒng)及磁力模塊，因而掃描范圍更廣，定位更精確。
功能特點(diǎn)：
帶濕度、濕度顯示
光機(jī)電一體化設(shè)計(jì)，外形結(jié)構(gòu)簡單
采用伺服馬達(dá)控制CCD自動對焦功能
帶光學(xué)定位功能，方便尋找樣品位置
掃描探頭和樣品臺集成一體，抗干擾能力強(qiáng)
采用樣品趨近探針方式，使針尖垂直于樣品掃描
彈簧懸掛式防震方式，簡單實(shí)用，抗干擾能力強(qiáng)
集成多種掃描工作模式控制電路，配合軟件系統(tǒng)使用
精密激光檢測及探針定位裝置，光斑調(diào)節(jié)簡單，操作方便
模塊化的電子控制系統(tǒng)設(shè)計(jì)，便于電路的持續(xù)改進(jìn)與維護(hù)
帶光學(xué)定位的CCD觀測系統(tǒng)，實(shí)時(shí)觀測與定位探針掃描樣品區(qū)域
高精度大范圍的樣品移動裝置，可自由移動感興趣的樣品掃描區(qū)域
伺服馬達(dá)手動或自動脈沖控制，驅(qū)動樣品垂直接近探針，可精確定位
高精度大范圍的壓電陶瓷掃描器，根據(jù)不同精度和掃描范圍要求選擇
可選購模式: 相位、摩擦力、磁力、靜電力
報(bào)價(jià)：面議
已咨詢65次顯微鏡
報(bào)價(jià)：面議
已咨詢130次光學(xué)輪廓儀 臺階儀 原子力顯微鏡 (AEM & AFMMUR)
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已咨詢2516次
報(bào)價(jià)：面議
已咨詢2146次
報(bào)價(jià)：￥1
已咨詢601次電鏡耗材
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已咨詢983次掃描探針顯微鏡
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已咨詢1184次掃描探針顯微鏡
報(bào)價(jià)：面議
已咨詢3108次
Park NX-Hivac通過為失效分析工程師提供高真空環(huán)境來提高測量敏感度以及原子力顯微鏡測量的可重復(fù)性。與一般環(huán)境或干燥N2條件相比，高真空測量具有準(zhǔn)確度好、可重復(fù)性好及針尖和樣本損傷低等優(yōu)點(diǎn)。
高精度探針針尖變量的亞埃米級表面粗糙度測量，晶圓的表面粗糙度對于確定半導(dǎo)體器件的性能是至關(guān)重要的，對于先進(jìn)的元件制造商，芯片制造商和晶圓供應(yīng)商都要求對晶圓商超平坦表面進(jìn)行更精確的粗糙度控制。
對于工程師來說，識別介質(zhì)/平面基底的納米級缺陷的任務(wù)是一個(gè)非常耗時(shí)的過程，Park NX-HDM原子力顯微鏡系統(tǒng)可以自動缺陷識別，通過與各種光學(xué)儀器的聯(lián)用可以提高缺陷檢測效率。
Park Systems推出NX-3DM全自動原子力顯微鏡系統(tǒng)，專為垂懸輪廓、高分辨率側(cè)壁成像和臨界角的測量而設(shè)計(jì)。
CSI是一家法國科學(xué)設(shè)備制造商，擁有專業(yè)的AFM設(shè)計(jì)概念，以及為現(xiàn)有的AFM提供設(shè)計(jì)選項(xiàng)。它避免了激光對準(zhǔn)需要預(yù)先定位針尖的系統(tǒng)，針尖/樣品的頂部和側(cè)視圖，結(jié)合垂直的馬達(dá)控制系統(tǒng)，使預(yù)先趨近更加容易。
EM-AFM可在SEM中同時(shí)提供原子力顯微鏡成像和納米機(jī)械測量。它綜合了這兩種技術(shù)的優(yōu)點(diǎn)，可高速獲得高分辨率的三維圖像，并且在微納米和亞納米尺度上實(shí)時(shí)觀察納米級力的相互作用，與常規(guī)SEM/FIB兼容，
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