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納米紅外掃描近場光譜和成像系統
- 品牌：德國布魯克
- 型號： nanoIR3-s
- 產地：歐洲 德國
- 供應商報價：面議
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瑞科和利（北京）科技有限公司
更新時間：2025-05-21 10:14:25 -
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- 納米紅外掃描近場光譜和成像系統 核心參數
產品特點
- 布魯克Anasys的 nanoIR3-s 系統將散射掃描近場光學顯微鏡（s-SNOM）、納米級紅外光譜（AFM-IR）與原子力顯微鏡（AFM）完美整合到單一平臺。依托 Anasys 技術在 AFM 納米光學表征方面的領先地位，nanoIR3-s 可提供納米級紅外光譜、化學成像和光學成像，在 2D 材料樣品上實現 10 納米空間分辨率。該系統還可以提供達到納米級分辨率的 AFM 形貌和性能成像，因此是對各種材料科學應用開展相關性研究的理想儀器。
詳細介紹
只有 nanoIR3-s 能夠提供：
高性能納米級 FTIR 光譜
高性能紅外近場光譜，采用目前先進的納米紅外激光源
納米級 FTIR 光譜，采用集成式DFG，可與寬帶同步輻射光源集成
適用于光譜和化學成像的多芯片 QCL 激光源
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| 掃描速度 | 10s/spectra | 波數范圍 | 900-3600cm-1 |
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