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產品特點：

靈活臺式 TLP/VF-TLP 測試系統。

產品詳情：

產品介紹：

Thermo Scientific Celestron 傳輸線脈沖/極快速傳輸線脈沖 (TLP/VF-TLP) 測試系統可針對標準 TLP 和 VF-TLP 進行配置，以便進行晶片級和/或封裝級測試。選配的探針還可用于測定非被測銷或非被測焊盤上的信號。Celestron 系統軟件是業界極為全面的軟件，它利用圖形來輔助系統設置和與被測器件 (DUT) 的連接。在測試運行期間，系統可顯示記錄的 TLP 脈沖電壓和電流波形、編制的脈沖 I-V 曲線、泄漏電流測量結果以及 DC I-V 曲線追蹤數據。操作員可選擇測試電壓（應力脈沖）的范圍、脈沖極性、漏電及曲線追蹤參數。也可在采集數據后選擇和修改 TLP 脈沖測量窗口的位置和持續時間。

主要特點

靈活的測試功能

Thermo Scientific Celestron TLP/VF-TLP 測試系統可針對標準 TLP 和 VF-TLP 進行配置，以便進行晶片級和/或封裝級測試。選配的探針還可用于測定非被測銷或非被測焊盤上的信號。

卓越的測試控制

操作員可選擇測試電壓（應力脈沖）的范圍、脈沖極性、漏電及曲線追蹤參數。也可在采集數據后選擇和修改 TLP 脈沖測量窗口的位置和持續時間。

脈沖發生器

高電流 TLP 脈沖發生器。

探測器

可與半自動探測器配合使用。

規格

標準 TLP 配置	脈沖寬度為 30 至 500 ns	集成在脈沖發生器盒中，標準 TLP 脈沖寬度為 100 ns 可通過 30 至 500 ns 范圍內的線纜更改從外部添加額外的脈沖寬度可選的計算機控制脈沖寬度，具有 3 個可選脈沖寬度
	可用上升時間	標準上升時間為 200 ps 500 ps 至 10 ns 的可選上升時間通過可選的外部上升時間過濾器控制包括 2 ns 和 10 ns 外部上升時間過濾器可選計算機控制上升時間，具有 3 個可選的上升時間注：TLP 測量需要 500 MHz 或更快的示波器對于上升時間小于 1 ns 的測量，建議使用 1GHz 或更寬的范圍
	支持所有 TLP 配置	25 至 500 ohm 輸出阻抗配置的可選更改支持 ESD 協會 TLP 標準測試方法中描述的所有配置所有阻抗的晶片級和封裝測試
標準 TLP/VF-TLP 配置	集成系統控制器	無需專用計算機 Windows? 操作系統
	集成式產生源/測量儀表單元	曲線追蹤至 ± 200 V 漏電測量低至 50 pA 基于漏電或具有強制電流的電壓或兩者的 DUT 故障檢測
	傳輸線脈沖 (TLP/VF-TLP)	設計上符合現行 ESD 協會標準測試方法文件 (ANSI/ESD STM 5.5.1-2016) 的相關要求
標準 VF-TLP 配置	脈沖寬度為 1.2 至 10 ns	通過系統前部的線纜更改進行選擇標準寬度為 1.2、2.5 和 5 ns（其他可選）
	上升時間為 200 ps 至 2 ns	通過可選的過濾器控制標準上升時間為 200 和 300 ps 包括 2 ns 外部上升時間過濾器
	最大脈沖電流	15 A 形成 50 ohm 負荷約 30 A 形成短路
	最大開路電壓	1500 V