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賽默飛世爾 DUALBEAM FIB-SEM 顯微鏡 Aquilos 2 Cryo FIB
- 品牌:賽默飛世爾
- 型號: Aquilos 2 Cryo FIB
- 產地:美洲 美國
- 供應商報價:面議
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賽默飛電子顯微鏡
更新時間:2025-05-26 10:01:35
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銷售范圍售全國
入駐年限第8年
營業執照已審核
- 同類產品FIB-SEM DualBeam(10件)
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為您推薦
產品特點
- 具有延長運行時間和增強自動化的冷凍電鏡樣品制備工具。
詳細介紹
產品介紹:
Thermo Scientific Aquilos 2 Cryo-FIB 是我們最 新一代的 cryo-DualBeam 系統。它專用于為高分辨率冷凍電子斷層掃描或微晶 MicroED 制備電子透明的薄片。
利用 Aquilos 2 Cryo-FIB,您可以憑借自動化工作流程步驟向前邁出革命性的一步,從特定程序化位置產生多個減薄的樣品區域。經過改進的專用冷凍硬件有助于延長運行時間,且污染率極低。了解我們最 新的 cryo-FIB 平臺如何確定細胞內部的結構。
生物分子在其細胞環境內的斷層掃描需要用 cryo-FIB 進行高準確度的樣品制備,這可以使用來自集成熒光顯微鏡檢查的信息來實現。現在可用于 Aquilos 2 Cryo-FIB 的 Thermo Scientific iFLM 相關系統將光和電子顯微術結合在一個系統中。這避免了額外的樣品轉移步驟,并使您能夠為冷凍斷層掃描創建一個更精簡的冷凍相關解決方案。iFLM(集成熒光顯微鏡)相關系統將熒光靶標定位在腔室內,讓您可以在一個系統內關聯兩種成像模式,從而確保樣品位于正確的位置。
用 Aquilos 2 Cryo-FIB 制備的冷凍薄片(左)。掃描電鏡圖像與使用 iFLM 相關系統獲得的熒光圖像的疊加(右)。
配備 iFLM 相關系統的 Aquilos 2 Cryo-FIB。
優勢
自動化
過夜運行系統,可以利用 Thermo Scientific AutoTEM 軟件自動生產多個減薄的樣品區域。
冷凍提取
利用我們的高精度冷凍提取解決方案 Thermo Scientific EasyLift 微操作機械手,能夠靶向并提取您的目標結構。
3D 可視化
使用荷電襯度查看表面下的天然亞細胞結構,并使用 Thermo Scientific Auto Slice and View 軟件鑒別冷凍透射電鏡中的高分辨率斷層掃描的特征。
延長運行時間
即使是過夜運行,您的樣品也能保持在玻璃化溫度。冷凍硬件和可全向旋轉的冷凍載物臺保護冷凍樣品免受污染,并確保它們在實驗期間保持玻璃化狀態。
性能數據
電子光學系統 加速電壓范圍: 200 V – 30 kV 電子束電流范圍: 1.5 pA 至 400 nA 分辨率(使用冷凍載物臺): 在 30 kV 時為 1.6 nm,2 kV(室溫下)時為 2.6 nm,2kV(在冷凍溫度下)時為 6.0 nm* 分辨率(使用冷凍載物臺): 30 kV 時 7.0 nm 離子光學系統 離子源壽命: 1300 小時 電壓: 500 V 至 30 kV 電子束電流: 1.5 pA – 65 nA,分 15 檔 分辨率(使用冷凍載物臺): 30 kV 時 7.0 nm 冷凍載物臺 在低溫下的旋轉角度(共心工作距離): -15° 至 +55° XY 范圍: 110 mm Z 范圍: 65 mm 旋轉: 360°(無限) 冷卻時間: <20 分鐘 真空系統 室溫下的腔室真空度: <4e–4Pa 冷凍條件下的腔室真空度: <8e–5Pa 技術資料
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