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IVEA微尺度元素分析 (LIBS 激光誘導擊穿光譜儀)
- 品牌:法國IVEA
- 型號: MEEP2
- 產地:歐洲 法國
- 供應商報價:面議
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艾頡熙貿易(上海)有限公司
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銷售范圍售全國
入駐年限第10年
營業執照
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詳細介紹
LIBS技術: 是Laser-Induced Breakdown Spectroscopy(激光誘導擊穿光譜儀)的簡稱
LIBS原理:
LIBS使用脈沖激光聚焦到待測樣品表面,激光光束聚焦在樣品表面的光斑很小(最小可做到4um的光斑直徑),在激光光斑照射區域中的材料被燒蝕剝離,從而產生高溫等離子體。等離子體冷卻的過程中會向外輻射元素的特征譜線。這些譜線被收集到光譜儀,然后利用探測到的特征譜線對樣品的元素化學成分進行定性或者定量分析
LIBS:快速分析盲樣中所有未知元素的**技術,給樣品處理的客戶帶來極大便利。LIBS產品概述:
法國IVEA公司的zuixinLIBS產品MEEP是將激光與顯微鏡耦合,實現樣品微區分析,最小分析口徑可達到3-4微米。與傳統LIBS系統不同。同時該產品每次脈沖燒蝕深度0.5-1微米左右,LIBS通過控制激光脈沖數可實現不同深度元素成分分析。
MEEP與傳統分析儀器相比,最突出的優點是:
- 燒蝕面積小:最小分析口徑可達到3-4微米
- LIBS分析與目視檢測的相結合: 方便用戶實時調整檢測位置
- LIBS與顯微鏡的相結合:對微小尺寸產品的檢測更容易操作
- LIBS無須樣品預處理:直接激光打在樣品上 。(傳統儀器需要萃取樣品,步驟復雜,時間長,容易二次污染等)- LIBS快速檢測:激光直接打在樣品上,解決了表面不平整不光滑等表面的檢測難題,幾秒鐘顯示分析結果。
- 266 nm 紫外激光源:266nm屬于紫外冷光源,不會對燒蝕面積邊緣產生熱化,更容易將燒蝕口徑控制更小更好
- LIBS配置帶有衰減器功能的光束整形:保證到達樣品表面的激光能量
- LIBS的探測系統可以自動溫控:這個對于系統檢測穩定性起到非常重要的作用
- 分析所有元素:元素表上的元素基本都可以檢測- 多元素同時檢測:激光打在樣品上一次,就可以將200-950nm內的所有元素一次探測出來。
- 檢測有機元素和最輕的幾個元素:包括H, Li, Na, Be, Mg等 (其他技術很難實現)
MEEP 可以在微米尺度上做空間分辨的元素分析,這一功能填補了現有技術的空白
應用領域:寶石、文物保護、塑料分類、油品、土壤、植物、巖石礦物、合金、煤粉等