
- 2025-06-04 09:25:08珀金埃爾默Spectrum Two 紅外光譜儀
- 珀金埃爾默Spectrum Two 紅外光譜儀 易用、功能強大、小巧耐用
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紅外光譜儀相關內(nèi)容
紅外光譜儀資訊
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紅外光譜儀文章
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- 紅外光譜儀操作
- 本文將詳細介紹紅外光譜儀的操作方法,包括其工作原理、儀器配置、實驗步驟和注意事項,旨在幫助用戶更高效地使用紅外光譜儀,提高實驗的準確性和可靠性。
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- 紅外光譜儀使用
- 其通過檢測物質(zhì)吸收或發(fā)射紅外光的方式來揭示物質(zhì)的分子結構和化學性質(zhì)。本文將介紹紅外光譜儀的使用方法、工作原理以及在實際應用中的價值,幫助讀者深入理解這一先進儀器的多重用途。
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- 紅外光譜儀維修,紅外光譜儀配件
- 紅外光譜儀作為精密儀器,其維修和保養(yǎng)工作需要專業(yè)的技術支持和定期的檢查。通過科學的故障排查與維修,可以有效提升設備的穩(wěn)定性和精度,從而確保其在各類分析實驗中的可靠性。
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- 紅外光譜儀適用條件,紅外光譜儀用途
- 紅外光譜儀在許多科研和工業(yè)領域中扮演著重要角色,但其應用效果受到多種條件的影響。了解并掌握紅外光譜儀的適用條件,可以確保實驗的高效性和準確性。通過合理的儀器選型、樣品處理、環(huán)境控制以及設備維護。
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- 紅外光譜儀原理,ftir紅外光譜儀原理
- 紅外光譜儀作為一種重要的分析工具,通過探測物質(zhì)對紅外光的吸收特性,能夠揭示樣品的分子結構和化學成分。其獨特的非破壞性檢測方式,使其在化學分析、環(huán)境監(jiān)測、食品安全等領域具有廣泛的應用前景。
紅外光譜儀產(chǎn)品
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紅外光譜儀問答
- 2025-04-15 16:00:17紅外光譜儀注意事項有哪些?
- 紅外光譜儀作為一種重要的分析工具,廣泛應用于化學、材料、環(huán)境監(jiān)測等領域。其通過測量樣品對紅外光的吸收情況,能夠獲得分子結構、化學成分等信息。為了確保紅外光譜儀的測試結果準確性和儀器的長期穩(wěn)定運行,使用時需要特別注意一些事項。本文將詳細探討紅外光譜儀使用過程中常見的注意事項,幫助用戶更好地進行操作和維護。 紅外光譜儀的校準非常關鍵。在進行任何實驗前,確保儀器已通過適當?shù)臉藴饰镔|(zhì)進行校準。儀器的校準不僅可以保證測量數(shù)據(jù)的準確性,還能避免因設備偏差而導致的誤差。在校準過程中,需要選擇適合實驗需求的標準物質(zhì),嚴格遵循廠商提供的操作手冊進行操作,避免人為因素引入的不確定性。 樣品的處理和準備也是影響測試結果的重要因素。紅外光譜儀通常要求樣品具有良好的均勻性和適當?shù)暮穸取τ谝后w樣品,可以使用特定的液體池,避免氣泡和雜質(zhì)的干擾;固體樣品則需要均勻研磨或切割,確保樣品表面光滑,以減少光譜信號的畸變。樣品的純度也對測試結果產(chǎn)生直接影響,因此,在使用前,好對樣品進行必要的預處理,去除其中的雜質(zhì)。 除了樣品本身,環(huán)境因素對紅外光譜儀的測試結果也具有不容忽視的影響。紅外光譜儀的精度很大程度上依賴于測試環(huán)境的溫濕度條件。過高或過低的溫度、濕度變化過大的環(huán)境都會影響儀器的性能,甚至可能導致不準確的結果。因此,在進行測量時,應將儀器放置在溫濕度控制較為穩(wěn)定的環(huán)境中,以確保儀器能夠正常工作。 在操作過程中,使用者還需注意紅外光譜儀的定期維護與清潔。儀器的光學部件,如透鏡和反射鏡,容易受到灰塵和污染物的影響,這會導致光學性能下降,影響測試結果的準確性。因此,定期清潔光學元件,特別是鏡頭和光源區(qū)域,是保持儀器高效運行的基本保障。也需要定期檢查儀器的光源和探測器,確保它們的穩(wěn)定性和靈敏度。 為了延長紅外光譜儀的使用壽命,避免頻繁發(fā)生故障,操作人員應嚴格遵循廠商的操作規(guī)范。對于不同型號的儀器,使用手冊中往往會提供專門的維護指南,用戶應根據(jù)儀器的具體要求進行保養(yǎng)。定期的檢查和專業(yè)的維修保養(yǎng)是防止設備故障和延長其使用周期的重要手段。 紅外光譜儀的應用也需要操作人員具備一定的專業(yè)知識。正確理解和分析紅外光譜圖是至關重要的,特別是在復雜樣品分析時,用戶需要具備較強的化學分析能力和數(shù)據(jù)解析能力。否則,可能會導致錯誤的結論,從而影響后續(xù)的實驗或應用。 紅外光譜儀作為精密的實驗工具,使用時需要細致關注多個方面,從校準、樣品處理、環(huán)境控制到定期維護等,均是確保測量準確性和儀器性能的重要因素。專業(yè)的操作與細心的保養(yǎng)能大程度地發(fā)揮其優(yōu)勢,確保實驗數(shù)據(jù)的可靠性。
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- 2025-04-15 16:00:17傅立葉紅外光譜儀步驟哪些必不可少?
- 傅立葉紅外光譜儀步驟 傅立葉紅外光譜儀(FTIR)作為現(xiàn)代分析化學中常見且重要的儀器之一,廣泛應用于材料分析、化學成分鑒定以及污染監(jiān)測等領域。通過對紅外光譜的解析,F(xiàn)TIR能夠準確地揭示樣品的分子結構和功能基團。本文將詳細介紹傅立葉紅外光譜儀的操作步驟,從樣品準備到數(shù)據(jù)分析的整個過程,幫助用戶更好地理解和掌握該技術的實際應用。 樣品準備與處理 傅立葉紅外光譜儀的使用首先要求樣品的充分準備。根據(jù)樣品的物理狀態(tài)(固態(tài)、液態(tài)或氣態(tài)),處理方法有所不同。在處理固態(tài)樣品時,通常需要將其磨成細粉,混合少量的KBr(氯化鉀)粉末,并通過壓片法制備成薄片,保證其透光性。液體樣品則可以直接滴加到紅外窗片上,或通過配制成薄膜來進行測試。氣體樣品一般通過氣體池進行分析,確保測試氣體的流動性和均勻性。 在進行樣品準備時,操作人員需要特別注意避免樣品的污染或揮發(fā)。因為這些因素會直接影響的光譜結果,導致誤差。因此,樣品準備過程中應確保清潔操作,并使用高質(zhì)量的化學試劑。 設備設置與校準 傅立葉紅外光譜儀的操作需要先進行必要的設備設置與校準。打開儀器并進行自檢,確保所有硬件運行正常。接著,根據(jù)不同的樣品類型,選擇適當?shù)墓庾V范圍和掃描模式。FTIR通常工作在4000 cm-1至400 cm-1的紅外區(qū)域,用戶應根據(jù)實驗要求設置合適的掃描次數(shù)和分辨率。 在進行數(shù)據(jù)采集之前,校準是確保實驗精度的重要步驟。常見的校準方法包括使用標準的波長校準片,或進行背景掃描。背景掃描是指在沒有樣品的情況下,對環(huán)境進行一次測量,獲得背景光譜。這樣,后續(xù)樣品測試時能夠扣除環(huán)境的影響,提高測試數(shù)據(jù)的準確性。 數(shù)據(jù)采集與分析 當樣品準備完畢,儀器設置完成后,開始進行數(shù)據(jù)采集。傅立葉紅外光譜儀通過紅外光源照射樣品,樣品對不同波長的紅外光具有不同的吸收特性,得到樣品的吸收光譜。在測試過程中,儀器會將光譜信息通過傅立葉變換算法轉(zhuǎn)化為可供分析的數(shù)據(jù)。 數(shù)據(jù)采集完畢后,用戶需要對光譜圖進行詳細的分析。檢查光譜的主要吸收峰,這些峰值對應的是樣品分子中的特定化學鍵。通過與已知的標準譜庫進行比對,分析樣品的成分和結構。不同化學基團會在紅外光譜上產(chǎn)生特定的吸收峰,例如,C=O、N-H、C-H等基團的吸收特征非常明顯,能夠幫助用戶迅速定位到樣品的分子結構。 結果驗證與報告 為確保實驗結果的可靠性,用戶需對結果進行驗證。可以通過對比不同批次樣品的光譜結果,或者使用其他分析方法(如GC-MS、NMR)進行輔助驗證。如果光譜數(shù)據(jù)與已知標準相符,則可以確認樣品的成分與結構。 在完成數(shù)據(jù)分析后,生成的報告需詳細記錄實驗條件、樣品信息、光譜圖及分析結論。報告的準確性對于后續(xù)的科研工作或質(zhì)量控制至關重要。 總結 傅立葉紅外光譜儀作為一種強大的分析工具,其操作過程雖有一定復雜性,但通過合理的樣品準備、設備設置、數(shù)據(jù)采集與分析,可以得到高精度的實驗結果。精確的操作步驟和科學的分析方法是確保結果準確性的關鍵。通過對傅立葉紅外光譜技術的掌握,不僅能夠提高實驗效率,更能為材料分析和化學研究提供有力的支持。
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- 2024-11-20 16:17:53紅外光譜儀有哪些功能?如何做好清潔保養(yǎng)?
- 紅外光譜儀如何清潔:保持儀器性能的關鍵紅外光譜儀作為一種精密的分析儀器,在化學、制藥、環(huán)境監(jiān)測等多個領域中有著廣泛的應用。由于其高度敏感的性質(zhì),任何污漬、灰塵或其他污染物都可能影響其測量結果的準確性。因此,定期且正確的清潔紅外光譜儀,不僅能延長儀器的使用壽命,還能確保測試數(shù)據(jù)的可靠性。本文將詳細介紹如何清潔紅外光譜儀,幫助用戶正確維護這一高精密儀器。一、清潔前的準備工作在進行任何清潔操作之前,首先要確保紅外光譜儀已完全關閉,并拔掉電源插頭。斷電不僅是為了安全,也能避免在清潔過程中不小心操作引發(fā)儀器損壞。隨后,準備一些必要的清潔工具,如超細纖維布、專用清潔液、氣吹器、鏡頭紙以及棉簽等。這些工具能夠有效地清除表面污漬和細小灰塵,同時不會對儀器造成損傷。二、清潔外部表面紅外光譜儀的外部表面通常會積累灰塵、指紋等污漬。為避免這些污染物影響儀器的外觀和操作,應使用超細纖維布進行擦拭。超細纖維布具有良好的吸附性能,可以輕松清除表面灰塵,且不容易刮傷儀器表面。如果污漬較為頑固,可以輕輕噴灑一些專業(yè)的清潔液,然后用布擦拭干凈。對于一些細小的縫隙和按鈕等難以觸及的部位,可以使用氣吹器清除灰塵。氣吹器的氣流能夠有效去除細小顆粒,避免用手觸碰而可能帶來的污染或刮傷。三、清潔光學部件紅外光譜儀的光學部件,如鏡頭、透鏡和光纖等,是影響測量結果精度的重要因素。因此,這些部件的清潔需要特別小心。通常,可以使用專用鏡頭紙和少量的清潔液,輕輕擦拭光學鏡頭。務必避免使用硬物或過于濕潤的布料,以免損壞光學表面。在清潔過程中,要注意操作的輕柔度,并避免過度摩擦。鏡頭上的指紋或污漬可以通過鏡頭紙輕松去除,但如有較頑固的污染物,可以借助棉簽沾少量清潔液進行擦拭。四、清潔內(nèi)部部件紅外光譜儀的內(nèi)部部件,如光源、探測器和光學模塊,通常需要專業(yè)人員進行清潔。如果需要自己進行內(nèi)部清潔,應非常小心。可以使用氣吹器輕輕吹去內(nèi)部積塵,避免使用任何液體清潔劑,以免液體進入儀器內(nèi)部造成損壞。如果發(fā)現(xiàn)有較大的污漬或污垢,建議尋求專業(yè)的維護服務,以確保不會影響儀器的性能。五、定期檢查與維護除了日常的清潔工作外,紅外光譜儀還需要定期進行維護檢查。這包括校準光譜儀、檢查光源的穩(wěn)定性和探測器的靈敏度等。定期的專業(yè)維護不僅能確保儀器的精度和穩(wěn)定性,還能幫助發(fā)現(xiàn)潛在的問題,防止出現(xiàn)故障。
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- 2023-06-05 09:39:20傅立葉變換紅外光譜儀測定粉塵中游離二氧化硅含量
- 關鍵詞:紅外光譜儀 定量檢測 游離二氧化硅 在電力、煤炭等行業(yè)生產(chǎn)環(huán)境中,粉塵中游離二氧化硅含量較高,粉塵的分散度也比較高,即多為呼吸性粉塵,因此對作業(yè)人員的危害較大,主要包括鼻炎、咽炎、氣管炎、支氣管炎等呼吸系統(tǒng)疾病。因此,加強對粉塵中游離二氧化硅含量的檢測是一件非常重要和緊迫的工作。以往檢測均采用“焦磷酸重量法”,該方法存在操作步驟復雜、使用試劑種類繁多、檢測周期長、準確性差、試驗室條件要求苛刻等一系列問題,難以滿足現(xiàn)場批量檢測的要求。為了提高檢測的準確性,實現(xiàn)批量檢測的目的,可選用FTIR920型傅立葉變換紅外光譜儀來檢測粉塵中游離二氧化硅含量。檢測原理:α-石英在紅外光譜中于 12.5μm(800cm-1)、12.8μm(780cm-1)及 14.4(694cm-1)μm處出現(xiàn)特異性強的吸收帶,在一定范圍內(nèi),其吸光度值與α-石英質(zhì)量成線性關系。通過測量吸光度,進行定量測定。儀器配置:制樣準備:瓷坩堝和坩堝鉗;箱式電阻爐或低溫灰化爐;十萬分之一天平;200目過濾篩;濾紙、稱量紙 若干;無水乙醇;手套、脫脂棉、小藥勺、玻璃取樣瓶;游離二氧化硅標準品(純度高于95%);采集的粉塵樣品。樣品的采集:根據(jù)測定目的,樣品的采集方法參見 GBZ 159 和 GBZ/T 192.2 或 GBZ/T 192.1,濾膜上采集的粉塵量大于 0.1mg 時,可直接用于本法測定游離二氧化硅含量。測定:1、樣品處理準確稱量采有粉塵的濾膜上粉塵的質(zhì)量(G)。然后將受塵面向內(nèi)對折 3 次,放在瓷坩堝內(nèi),置于低溫灰化爐或電阻爐(小于 600℃)內(nèi)灰化,冷卻后,放入干燥器內(nèi)待用。稱取 250mg 溴化鉀和灰化后的粉塵樣品一起放入瑪瑙乳缽中研磨混勻后,連同壓片模具一起放入干燥箱(110℃±5℃)中10min。將干燥后的混合樣品置于壓片模具中,加壓25MPa,持續(xù) 3min,制備出的錠片作為測定樣品。同時,取空白濾膜一張,同樣處理,作為空白對照樣品。2、石英標準曲線的繪制 精確稱取不同質(zhì)量的標準α-石英塵(0.01mg ~1.00mg),分別加入250mg 溴化鉀,置于瑪瑙乳缽中充分研磨均勻,按上述樣品制備方法做出透明的錠片。將不同質(zhì)量的標準石英錠片置于樣品室光路中進行掃描,紅外軟件以 X 軸橫坐標記錄 1000cm-1~600cm-1 的譜圖,在 900cm-1 處校正零點和 100%,以 Y 軸縱坐標表示吸光度。以 800cm-1、780cm-1 及 694cm-1 三處的吸光度值為縱坐標,以石英質(zhì)量(mg)為橫坐標,繪制三條不同波長的α-石英標準曲線,并求出標準曲線的回歸方程式。在無干擾的情況下,一般選用 800 cm-1標準曲線進行定量分析。3、樣品測定分別將樣品錠片與空白對照樣品錠片置于樣品室光路中進行掃描,記錄800cm-1(或 694cm-1)處的吸光度值,重復掃描測定 3 次,測定樣品的吸光度均值減去空白對照樣品的吸光度均值后,由α-石英標準曲線得樣品中游離二氧化硅的質(zhì)量(m)。計算 按以下公式計算粉塵中游離二氧化硅的含量:SiO2(F)= m/G× 100公式中:SiO2(F)——粉塵中游離二氧化硅(α-石英)的含量,%;m——測得的粉塵樣品中游離二氧化硅的質(zhì)量,mg;G——粉塵樣品質(zhì)量,mg。注意事項1、本法的α-石英檢出量為 0.01mg;相對標準差(RSD)為 0.64%~1.41%。2、粉塵粒度大小對測定結果有一定影響,因此,樣品和制作標準曲線的石英塵應充分研磨,使其粒度小于 5μm 者占 95%以上,方可進行分析測定。3、灰化溫度對煤礦塵樣品定量結果有一定影響,若煤塵樣品中含有大量高嶺土成分,在高于 600℃灰化時發(fā)生分解,于 800cm-1 附近產(chǎn)生干擾,如灰化溫度小于 600℃時,可消除此干擾帶。4、在粉塵中若含有粘土、云母、閃石、長石等成分時,可在 800cm-1 附近產(chǎn)生干擾,則可用 694cm-1 的標準曲線進行定量分析。5、為降低測量的隨機誤差,實驗室溫度應控制在 18℃~24℃,相對濕度小于 50%為宜。制備石英標準曲線樣品的分析條件應與被測樣品的條件完全一致,以減少誤差。
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- 2022-06-02 13:20:53布魯克VERTEX 70v研究級紅外光譜儀
- 儀器簡介:VERTEX 70v 光譜儀采用 RockSolid? 準直高性能干涉儀,能滿足從常規(guī)分析測量到高端科研領域的各種應用需求。可以供從紫外/可見光(50000 cm-1) 到遠紅外/太赫茲(5 cm-1)的廣泛光譜范圍、極高的光譜和時間分辨率以及卓越的靈活性。高端真空研究級紅外光譜儀VERTEX 70v系統(tǒng)能夠通過的技術,為高端研究應用提供完美的解決方案。能實現(xiàn)目前業(yè)內(nèi)*高水平的快速掃描和步進掃描測量,能在*廣的光譜范圍內(nèi)提供卓越的性能。VERTEX 70v全真空系列光譜儀徹底杜絕了大氣吸收對紅外測量的干擾,進一步提高光譜質(zhì)量。數(shù)據(jù)采集使用delta-sigma自激型數(shù)/模轉(zhuǎn)換器,該轉(zhuǎn)換器具備真正的24位ADC動態(tài)范圍。布魯克先進技術DigiTect將此數(shù)模轉(zhuǎn)換器與檢測器自帶的電子前置信號放大器整合到一起。大限度地避免了外界模擬信號對光譜的干擾,確保了出色的信噪比。產(chǎn)品性能:最高的光譜分辨率- 最高的信噪比- 最高的動鏡掃描速度- 全真空、可吹掃或密封干燥式光學臺克服大氣干擾- 最多的軟件可控外光路擴展接口- 分束器更換簡單快捷、無需重新調(diào)整干涉儀,實現(xiàn)紫外、可見光、近紅外及遠紅外/太赫茲波段的譜區(qū)擴展- 全自動識別所有光學配件及測量附件- 強大的步進掃描/慢掃描功能滿足光譜的時間分辨及各種調(diào)制應用- 極具遠見性的設計可滿足當前及未來的各種拓展需求 外部附件、源和探測器VERTEX 70v 真空光譜儀配備五個光束出口端口和兩個光束輸入端口,可隨時升級具有外部測量附件、源和探測器的系統(tǒng)。這包括以下內(nèi)容:用于 VCD 和 PM-IRRAS 的 PMA 50 偏振調(diào)制附件PL II 光致發(fā)光模塊RAM II FT-拉曼模塊和RamanScope III FT-拉曼顯微鏡TGA-FT-IR 聯(lián)用HYPERION 系列FTIR顯微鏡HYPERION 3000 FT-IR 成像系統(tǒng)HTS-XT 高通量篩選eXTensionIMAC 焦平面陣列宏觀成像附件外部樣品室 XSA(真空或吹掃)外部真空密閉的超高真空腔室(UHV)真空PL/PT/PR測量單元帶中紅外或近紅外光纖探頭的光纖耦合單元(用于固體和液體)大型積分球自動進樣器外接遠紅外Hg燈光源寬帶中紅外-遠紅外分束器和檢測器(BRUKER FM)外部發(fā)射適配器外部高性能中紅外光源外部真空4位檢測器腔適用于遠紅外----爾迪儀器代理bruker VERTEX 70v,有需要可聯(lián)系我司。爾迪儀器創(chuàng)建于2013年,是一家從事儀器設備銷售、技術服務與工藝開發(fā)的創(chuàng)新公司。總部辦公地點位于上海,在北京、深圳、重慶、合肥等地設有辦事處。通過多年穩(wěn)步發(fā)展,急客戶之所急,想客戶之所想,應客戶之所需,行客戶之未行,12小時內(nèi)響應,24小時內(nèi)上門,形成售前專業(yè)全面、售中細致嚴謹、售后周到快捷的完整服務體系。
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