
- 2025-01-10 10:50:07流式顆粒成像分析
- 流式顆粒成像分析是一種通過流式技術對顆粒進行成像和分析的方法。該技術利用高速攝像機和圖像處理算法,對流動的顆粒進行實時捕捉和分析,能夠提供顆粒的大小、形狀、分布等詳細信息。流式顆粒成像分析在生物醫學、材料科學、環境監測等領域具有廣泛應用,對于研究顆粒的性質、行為以及顆粒間的相互作用具有重要意義。您是否有關于科學儀器的具體需求或問題?
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流式顆粒成像分析資訊
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流式顆粒成像分析問答
- 2023-07-03 13:11:02干混懸顆粒味覺指標分析
- 檢測儀器:日本INSENT公司的味覺分析系統 型號:TS-5000Z實驗結果:1、干混懸顆粒的AN0堿性苦味和BT0鹽酸鹽類苦味干混懸顆粒溶解后具有較大的粘性,三個干混懸顆粒AN0傳感器測試結果反映三者具有很大的差異,其中C堿性苦味為負數,可認為其沒有堿性苦味,B堿性苦味值較大,A樣品的堿性也有一定的堿性苦味,但與B相比苦味很小。鹽酸鹽類苦味(如鹽酸小檗堿),從數據上看,B樣品不僅有堿性苦味還有很強的鹽酸鹽類苦味。A樣品鹽酸鹽苦味也很小。C樣品沒有堿性苦味,鹽酸鹽類苦味傳感器響應明顯。2、干混懸顆粒酸性苦味測試酸性苦味傳感器是一個廣譜型傳感器,可以測試食品中、植物性中藥中的幾乎所有苦味成分。對比苦味先期味道和回味可見,吞咽后口腔中殘留的苦味要遠小于藥品本身的苦味,從圖3中可見,酸性苦味先期C>B>A,吞咽后口腔中殘留則是A>B>C(詳見圖4),可見C樣品的苦味殘留很少,A和B酸性苦味回味接近。
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- 2023-05-26 10:03:56PhenoTron?-XYZ植物表型成像分析系統
- PhenoTron?-XYZ植物表型成像分析系統,是易科泰生態技術公司基于國際先進光譜成像傳感器技術和自主研發的XYZ植物表型自動掃描平臺,設計生產的一款適用于實驗室或溫室高通量植物表型分析系統:國際知名高光譜成像技術公司Specim(芬蘭)高光譜成像傳感器Thermo-RGB?紅外熱成像與可見光成像融合分析技術,可實現遙控和在線圖傳FluorCam葉綠素熒光成像技術平臺采用STP(Sensor-To-Plant)技術和在線視覺監控可選配基于蒸滲儀技術的iPOT數字化培養盆,全面監測重量變化、土壤水分與溫度,及葉片溫度、葉綠素熒光、莖流、光合作用等生理生態參數可選配臺面式表型分析平臺,XYZ安裝在樣品平臺上,特別適合實驗室組培苗和種苗表型分析、種質資源檢測等應用于種苗與組培苗表型檢測、作物表型研究分析、植物生理生態研究、光合生理研究、種質資源檢測、脅迫與抗性評估與篩選等 自左至右依次為:PhenoTron?-XYZ植物表型成像分析系統(可移動)、臺面式PhenoTron?-XYZ植物表型成像分析系統、綠豆種苗高光譜成像分析(PRI)主要技術指標:1)平臺采用STP技術,嵌入式主控系統,全中文操作界面,觸控屏+PC端GUI軟件雙重控制,可無線控制2)XYZ三軸全自動運行,精 準定位掃描成像分析,運行精度1mm3)支持組合命令,可自定義Protocols,自動執行XYZ三軸移動、停止、光源開閉、快門觸發等4)支持位置記憶,可一鍵注冊、記錄、保存、讀取XYZ坐標信息,自動移動精 準定位采集Thermo-RGB及FluorCam葉綠素熒光成像數據5)機器視覺監控:監控鏡頭經過算法校準,在線監視全域植物狀態和自動掃描成像,通過注冊XYZ自動定位采集RGB、紅外熱成像、FluorCam葉綠素熒光成像數據,并在線監控全過程6)標配臺面式XYZ三軸有效行程:X軸80cm,Y軸有效掃描長度180cm,Z軸可升降范圍30cm7)400-1000nm高光譜成像:a)光譜通道448,具備MROI功能,根據需求自由選擇感興趣光譜波段,減少數據冗余b)幀率:330FPS(滿幀),適應多種測量場景,尤其對容易擺動的植物,保證最 佳的成像效果c)光譜分辨率 FWHM:5.5nmd)空間分辨率:1024像素e)信噪比400:1f)分析參數:可成像測量分析作物生化、生理指標如葉綠素含量、花青素含量、胡蘿卜素含量、光利用效率、葉綠素熒光指數、健康指數、覆蓋度等近百種參數8)900-1700nm高光譜成像:a)光譜通道224,具備MROI功能,根據需求自由選擇感興趣光譜波段,減少數據冗余b)幀率:670FPS(滿幀)c)光譜分辨率 FWHM:8nmd)空間分辨率:640像素e)信噪比1000:1f)分析參數:可成像測量分析NDNI歸一化N指數、NDWI歸一化水指數、MSI水分脅迫指數等9)SpectrAPP?高光譜成像分析軟件:a)具備偽彩色/灰度顯示、波段融合、ROI選區、光譜指數分析、光譜曲線繪制、光譜特征統計、直方圖統計、結果圖/表導出等功能b)可分析NDVI、PRI、DCNI、CRI、ARI、PSRI、NPQI、EVI、HI、WBI等數十種光譜指數,可根據需求定制添加光譜指數 左:SpectrAPP?高光譜成像分析,右:綠豆幼苗葉綠素熒光成像分析10)Thermo-RGB成像:a)可見光-紅外熱成像雙鏡頭主機,出廠黑體多點校準并附校準證書,分辨率640×512像素b)測量溫度范圍-25℃-150℃,靈敏度0.03℃@30℃,c)紅外熱成像分析軟件具備調色板、差值技術、溫度范圍設置、等溫線模式、選區分析、溫度掃描、剖面溫度、時間圖、3D溫度圖、在線報告等功能d)Thermo-RGB?成像融合分析:可進行手動/自動ROI分析;光照/背光葉片長度、寬度、周長、凸包面積、圓度等形態分析;最 高、最 低、平均溫度、最 大溫差、中位數等溫度分析;R/G/B、H/S/V、綠視率等顏色分析,具備溫度直方圖統計、路勁分析、溫度轉換、圖/表導出等功能e) Thermo-RGB遙控并可在線圖像無線傳輸,實時監測RGB及紅外熱成像畫面,測量最 大、最 小、中心點溫度信息等11)葉綠素熒光成像:a)專業高靈敏度葉綠素熒光成像CCD,幀頻50fps,分辨率720×560像素,像素大小8.6×8.3μmb)3色4組LED激發光源:620nm脈沖調制測量光,620nm紅色、5700K白色雙色光化學光源,735nm遠紅光用于測量Fo’等c)光化學光最 大1000μmol.m-2. s-1可調,飽和脈沖3900μmol.m-2. s-1d)可自動運行Fv/Fm、Kautsky誘導效應、熒光淬滅分析、光響應曲線等protocolse)50多個葉綠素熒光自動測量分析參數,包括:Fv/Fm、Fv’/Fm’、Y(II)、NPQ、qN、qP、Rfd、ETR等,自動形成葉綠素熒光參數圖f) 自動同步顯示葉綠素熒光參數及參數圖、葉綠素熒光動態曲線、葉綠素熒光參數頻率直方圖g) 可通過注冊定位自動精 準定位運行葉綠素熒光成像分析,單次成像面積35x46mmh)可對植物葉片、果實等不同組織進行葉綠素熒光成像分析i) 可選配GFP成像j) 配備便攜支架和葉夾,方便獨立使用
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- 2025-01-06 18:15:12電渦流式測厚儀怎么校正
- 電渦流式測厚儀怎么校正 電渦流式測厚儀是一種常用的無損檢測工具,廣泛應用于材料的厚度測量中,尤其是在金屬、涂層以及其他非磁性材料的測量中。為了保證測量結果的準確性和可靠性,定期的校正是非常必要的。本文將詳細介紹電渦流式測厚儀的校正方法、步驟以及需要注意的關鍵點,幫助用戶正確操作和維護儀器,確保測量精度,減少測量誤差。 電渦流式測厚儀的原理 電渦流式測厚儀基于電渦流原理,利用高頻電流在導電材料中產生的電渦流效應,通過測量渦流的變化來判斷材料的厚度。該方法對待測物體表面無損傷,且對非磁性材料(如鋁、銅、塑料涂層等)的測量具有較高的精度。由于電渦流的測量結果受多種因素的影響,如材料表面狀況、溫度變化等,因此儀器需要定期校正,以保證其準確性。 電渦流式測厚儀校正的必要性 校正是確保測厚儀準確性和可靠性的關鍵步驟。由于電渦流測量受多種變量影響,如測量環境、材料特性以及探頭與被測物表面的接觸情況等,若不定期校正,可能會導致讀數偏差,從而影響測量結果的可信度。因此,通過標準校正件或校正板來進行校正,是確保儀器準確測量的必要環節。 電渦流式測厚儀的校正方法 選擇校正標準件 校正時,首先需要選擇與被測材料相同或相似的標準件。校正件的材質、厚度以及表面狀態應與實際測量環境相符。一般來說,可以使用已知厚度的金屬塊、涂層樣本或具有已知厚度的標準片。 調整儀器設置 在開始校正前,確保測厚儀的電池電量充足,儀器的設置參數(如頻率、測量模式等)應根據校正件的特性進行適當調整。有些測厚儀提供自動校正功能,用戶可通過選擇合適的預設模式來完成校正。 校正步驟 將標準校正件平穩地放置在儀器的探頭下,確保探頭與表面接觸良好且垂直。按照儀器說明書上的校正流程進行操作。一般來說,測厚儀會要求用戶對比標準件的厚度與儀器顯示的值,根據顯示結果調整儀器的讀數,直到讀數與標準件的實際厚度一致。 多點校正 為確保高精度測量,建議在多個不同位置進行校正,尤其是當被測物表面存在不規則時,多個測量點能幫助提升校正的準確性。校正時,檢查不同位置的讀數是否一致,如果發現較大偏差,可能需要檢查儀器是否存在故障或探頭是否損壞。 記錄和驗證 完成校正后,建議記錄下校正數據,并定期檢查儀器的狀態。對于重要測量任務,好進行一次驗證測量,確保校正結果的有效性。校正后,應進行一段時間的實際測量驗證,以保證測厚儀始終保持佳性能。 電渦流式測厚儀校正時的注意事項 環境因素 測量環境的溫度、濕度、振動等都會影響校正結果。因此,校正時應盡量在穩定的環境中進行,避免環境波動影響儀器的性能。 標準件的選擇 選擇標準件時,要確保其厚度精度和表面平整度符合校正要求。任何微小的偏差都會影響到終的校正效果。 儀器維護 定期檢查電渦流式測厚儀的探頭、顯示屏和接口等部件,保持儀器清潔,避免灰塵或腐蝕物影響測量精度。 定期校正 即便測量儀器的誤差不明顯,定期校正也是確保長期準確性的必要措施。推薦至少每半年進行一次全面的校正,尤其是在頻繁使用的情況下。 結論 電渦流式測厚儀的校正不僅是保證其測量精度的關鍵,也是確保儀器長期穩定運行的基礎。通過定期校正、選擇合適的校正標準件、調整合適的儀器設置,并關注環境因素的變化,可以大大減少誤差,確保測量結果的可靠性。在進行電渦流式測厚儀校正時,務必嚴格按照標準操作流程進行,保障測量的高效性與準確性。
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- 2025-02-17 14:30:16核磁共振成像成像特點是什么?
- 核磁共振成像成像特點 核磁共振成像(MRI)作為一種非侵入性醫學成像技術,在現代醫學中得到了廣泛應用。與傳統的X射線和CT掃描不同,核磁共振成像通過利用強磁場和射頻脈沖,生成高分辨率的內部圖像,能夠清晰地呈現身體各個組織和器官的結構。本文將深入探討核磁共振成像的成像特點,并闡明其在臨床應用中的優勢。 高分辨率的軟組織成像 核磁共振成像顯著的特點之一是其在軟組織成像方面的優越性。傳統的成像技術如X射線或CT掃描主要依賴于硬組織的密度差異,而MRI則能夠提供軟組織的細節圖像。無論是腦組織、肌肉、關節還是器官,核磁共振都能提供清晰的圖像,這使得醫生在診斷時能夠準確識別各種疾病,如腦部腫瘤、脊柱疾病、心血管疾病等。 無輻射危害 與X射線和CT掃描等影像技術不同,核磁共振成像不會使用任何形式的電離輻射,這使得其在許多臨床情境下成為一種更加安全的選擇。特別是在需要多次檢查的情況下(如癌癥隨訪或慢性病監控),MRI因其零輻射特性而具有明顯的優勢。MRI對孕婦和兒童等敏感人群更為友好,是其在兒科和產科中應用的關鍵因素之一。 多平面成像能力 核磁共振成像具有獨特的多平面成像能力,即能夠在不同的平面(如橫截面、冠狀面、矢狀面等)上進行成像。這一特點使得MRI能夠從多角度、多方位獲取圖像,極大提高了疾病診斷的精確度和可靠性。通過多平面重建,醫生可以清晰地了解患者病變區域的空間關系,從而進行更有效的診斷和。 組織對比度良好 核磁共振成像提供了較為優異的組織對比度,這使得不同類型的組織在圖像中的分辨更加明顯。例如,腫瘤和正常組織的對比度非常高,幫助醫生識別腫瘤的邊界和形態特征。MRI技術還可以通過使用不同的序列(如T1、T2加權成像)來突出顯示不同類型的組織結構,這對于臨床中的診斷工作至關重要。 動態成像和功能性成像 隨著技術的不斷發展,MRI不僅能夠提供靜態的解剖學圖像,還能夠進行動態成像和功能性成像。例如,通過使用功能性MRI(fMRI)技術,醫生可以觀察到大腦在執行特定任務時的活動情況,這對于神經科學的研究和疾病的診斷具有重要意義。MRI還可以通過動態對比增強成像(DCE-MRI)評估腫瘤的血流情況,進一步提高腫瘤的評估精度。 總結 核磁共振成像憑借其高分辨率軟組織成像、無輻射危害、多平面成像能力、優異的組織對比度以及動態成像和功能性成像等特點,已成為醫學影像學領域中不可或缺的重要技術。隨著技術的不斷進步,MRI將繼續在疾病診斷和中發揮著越來越重要的作用,尤其在軟組織成像和復雜疾病的早期發現中具有不可替代的優勢。 這篇文章結構緊湊,內容詳實,使用了相關的SEO關鍵詞,適合于優化網站排名。如果您有任何特定要求或修改意見,可以告訴我,我會根據您的需要進一步調整。
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- 2025-05-19 11:15:18透射電子顯微鏡怎么成像
- 透射電子顯微鏡(Transmission Electron Microscope, TEM)作為現代科學研究中的一項重要工具,廣泛應用于材料科學、生物學、化學等領域。它的工作原理和成像技術為我們揭示了物質的微觀結構,尤其是能夠深入到納米級別,觀察細胞內部的精細結構以及各類材料的晶體結構。本文將詳細介紹透射電子顯微鏡如何進行成像,探討其成像原理、過程及其優勢,為理解其在科研中的重要作用提供清晰的視角。 透射電子顯微鏡的成像原理 透射電子顯微鏡通過利用電子束與樣品的相互作用進行成像。與傳統光學顯微鏡不同,透射電子顯微鏡使用高能電子束而非光線,因為電子波長遠小于可見光,從而能夠觀察到比光學顯微鏡更為細微的物質結構。當電子束通過樣品時,部分電子被樣品中的原子散射或透過,另一部分則未受影響。通過檢測這些不同的電子束,電子顯微鏡能夠繪制出樣品的詳細影像。 成像過程 電子束的生成與聚焦 透射電子顯微鏡的電子束通常由一個加速器產生并通過電磁透鏡聚焦成極細的電子束。加速后的電子束具有極高的能量,可以穿透很薄的樣品。 樣品的制備 樣品必須足夠薄,以便電子束能夠透過。一般來說,樣品的厚度需要控制在100nm以下,這樣電子才能順利通過并獲得清晰的成像。 與樣品的相互作用 當電子束與樣品的原子發生相互作用時,部分電子會被散射,部分則通過樣品。這些散射電子和透過電子的不同程度為成像提供了信息。 成像與放大 整個透射過程通過一系列的透鏡系統,將透過樣品的電子聚焦到熒光屏或相機上,從而形成樣品的高分辨率圖像。不同的電子透過樣品的路徑、散射程度以及強度變化構成了圖像的細節。 透射電子顯微鏡的優勢 高分辨率 透射電子顯微鏡的大優勢在于其超高的分辨率,能夠觀察到原子級別的細節。由于電子的波長比可見光波長短,它能揭示光學顯微鏡無法捕捉到的微觀結構。 納米尺度觀察 TEM不僅能夠看到納米尺度的細節,還是觀察材料、細胞、病毒等微觀結構的首選工具,廣泛應用于科學研究及臨床診斷中。 多功能性 除了成像,透射電子顯微鏡還可以進行化學成分分析(如電子能量損失譜、X射線能譜等),進一步提高了其應用的廣泛性和準確性。 結語 透射電子顯微鏡作為現代科研不可或缺的工具,其高分辨率和獨特的成像原理使其在微觀結構觀察中具有無可替代的地位。無論是在材料科學還是生物學領域,TEM為我們提供了觀察微觀世界的新視角和深度,使我們得以深入探索細胞、材料和納米結構的復雜性。
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