徠卡集成激光光譜材料分析二合一系統(tǒng)-Leica DM6 M  LIBS概述

Leica DM6 M LIBS集成激光光譜材料分析二合一系統(tǒng)，它是元素分析、金相分析、清潔度分析的神助攻。在顯微觀測時，只要輕松按下一鍵，就可以切換至LIBS的特殊光路，對目標(biāo)微區(qū)激光激發(fā)，一秒鐘內(nèi)得到元素成分結(jié)果，所見即所得。此外，在使用DM6M LIBS進(jìn)行分析之前，不需要再進(jìn)行樣品制備，這樣就可以減少90%的材料分析時間，大幅節(jié)省人力，提高分析效率。

本款新品使用的是激光誘導(dǎo)擊穿光譜（LIBS）。這是一種原子發(fā)射光譜，可以對固相、液相和氣相集體中幾乎所有元素進(jìn)行定性和定量的分析。

徠卡集成激光光譜材料分析二合一系統(tǒng)-Leica DM6 M  LIBS性能

• ? DM6 M LIBS系統(tǒng)將光鏡觀察與元素分析合二為一

• ? 目視和化學(xué)材料檢驗，微觀結(jié)構(gòu)成分分析，與電鏡方法相比節(jié)省90%的時間

• ? 材料分析無需SEM樣品制備，無需系統(tǒng)調(diào)節(jié)，無需重新定位

• ? 減少工作流程，將工作流程精簡至一個步驟，以結(jié)果為核心

• ? 多種工具組合起來分析樣品的顯微結(jié)構(gòu)成分，1秒鐘內(nèi)迅速獲足夠的數(shù)據(jù)

• ? 元素或材料通過其特征光譜來識別

• ? 組件清潔度分析可快速獲取顆粒成分和結(jié)構(gòu)數(shù)據(jù)，做出定性分析

• ? 微觀結(jié)構(gòu)評估，更大限度減少了SEM/EDS高昂的樣品制備成本

• ? 地質(zhì)科學(xué)、電子行業(yè)、新電子材料、涂層等領(lǐng)域均有典型應(yīng)用

• ? 化學(xué)分析研究利器，DM6 M LIBS 解決方案運(yùn)用激光誘導(dǎo)擊穿光譜 (LIBS)  使定性化學(xué)分析成為可能

• ? 對已有DM6000 M 或 DM6 M顯微鏡可直接改裝升級為DM6 M LIBS二合一體統(tǒng)，大大節(jié)約成本

徠卡LIBS儀器優(yōu)點

• ? 儀器的高可靠性

• ? 無需樣品制備的遠(yuǎn)程元素分析

• ? 可在同一點重復(fù)激光脈沖清除樣品的灰塵和風(fēng)化層

• ? 可對多元素同時分析

• ? 低檢出限，可檢測微量元素

• ? 效率高，快速分析能力

• ? 只需幾秒鐘一次激發(fā)照射即可獲得用于分析的光譜

• ? 分析時間非常短，功耗低

• ? 直徑小于0.6mm的小分析點尺寸

• ? 識別水和/或水合礦物的能力

徠卡集成激光光譜材料分析二合一系統(tǒng)-Leica DM6 M  LIBS相比SEM/EDS的特點