Phenom ParticleX AM

飛納 Phenom ParticleX 增材制造金屬粉末全面評估系統 以臺式掃描電鏡和能譜儀為硬件基礎，可以全自動對顆粒或雜質進行快速識別、分析和分類統計，為客戶的研發以及生產提供快速、準確和可靠的定量數據支持。

?在增材制造中，粉末的尺寸、形狀和化學性能對于粉末床的行成、熔池和微觀均質性可能會產生重大影響。激光粒度儀雖然可以檢驗粉末粒度和形狀，但無法自動檢測和分析雜質顆粒。

Phenom ParticleX 專為工業環境使用而開發，可進行所有這些工作，并可生成標準報告，顯示尺寸和形狀分布以及識別污染顆粒。

同時具備納米級分辨率成像功能，分辨率為 10 nm，可以對斷口表面、單個顆粒和表 面缺陷（如氣孔、夾雜物和微裂紋）進行高分辨率成像。

規格參數