J200 LA-LIBS 激光剝蝕-激光誘導擊穿光譜復合系統用于高效分析LIBS光譜和時間分辨ICP-MS信號，分析人員可以在樣本圖像上編寫任意的激光采樣模式的程序，包括光柵線、曲線、隨機點、任意大小的網格和預先編程的圖案，能夠快速而準確地識別復雜的LIBS發射峰。特定的搜索標準(波長范圍、元素組、等離子體激發狀態)可以用來在短時間內縮小搜索范圍。TruLIBS?允許用戶從Axiom LA軟件直接加載實驗庫LIBS光譜來識別和標記峰值。

微粒沖洗性能：

根據測量目標(主要成分分析、包裹體分析、高分辨率深度分析、元素成像等)，有必要對樣品室的各個性能指標進行優化，指標包括：沖洗時間、顆粒混合、樣品室內的流動特性。

產品特點：

1、針對雙重LA/LIBS性能而設計的緊湊、模塊化系統，J200系統的duchuang性在于其模塊化系統的設計；

2、自動調整樣品高度，保證激光剝蝕的一致性J200采用了一種自動調高傳感器，該傳感器的設計考慮到了樣品表面的形態變化；

3、具有可互換鑲嵌模塊的Flex樣品室，以優化氣流和微粒沖洗性能根據測量目標(主要成分分析、包裹體分析、高分辨率深度分析、元素成像等)。

J200 LA-LIBS 激光剝蝕-激光誘導擊穿光譜復合系統軟件中的PCA工具是使用LIBS、質譜或兩個光譜對各種樣品(包括玻璃、油漆、油墨、塑料、地質礦物等)進行分類或鑒別的理想方法，能瞬時監測所選元素的LIBS發射峰值強度，揭示不同樣品深度處元素組成的變化。DepthTracker?對于確定樣品表面的污染物、執行涂層分析、了解薄膜結構以及識別位于其下方的夾雜物是一項非常有價值的功能，可以輕松地估計集成強度和RSD值。同時，時間分辨ICP-MS信號也可以非常流暢，并且可以輕而易舉地獲得TRSD（時間相對標準偏差）統計學數值。