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電子散斑干涉(ESPI)實驗裝置
- 品牌:天津拓普
- 型號: WSG-1型
- 產地:天津 津南區
- 供應商報價:面議
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天津市拓普儀器有限公司
更新時間:2024-01-11 08:44:46
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銷售范圍售全國
入駐年限第10年
營業執照已審核
- 同類產品工程光學(24件)
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詳細介紹
儀器簡介:
本實驗裝置主要面向大專院校教學使用。本實驗是用激光光束直接照射到測試表面,再用CCD采其變形前后表面散斑顆粒干涉形成的條紋,以測定其離面位移的新型,先進的測試技術。本實驗裝置可以使學生了解其原理和測量的方法。
儀器特點:自己調節光路,可提高動手能力;
采用了zuixin處理光學信息的CCD測量技術
計算機處理圖象,軟件操作簡便
可利用軟件畫出測試表面受力變形后的三維立體圖。
成套性:CCD攝像頭、氦氖激光器、圖象采集卡、圖象處理軟件、精密調節桿、光學零件、被測樣品。
技術參數:本實驗裝置主要面向大專院校教學使用。本實驗是用激光光束直接照射到測試表面,再用CCD采其變形前后表面散斑顆粒干涉形成的條紋,以測定其離面位移的新型,先進的測試技術。本實驗裝置可以使學生了解其原理和測量的方法。
儀器特點:自己調節光路,可提高動手能力;
采用了zuixin處理光學信息的CCD測量技術
計算機處理圖象,軟件操作簡便
可利用軟件畫出測試表面受力變形后的三維立體圖。
成套性:CCD攝像頭、氦氖激光器、圖象采集卡、圖象處理軟件、精密調節桿、光學零件、被測樣品。
主要特點:本實驗裝置主要面向大專院校教學使用。本實驗是用激光光束直接照射到測試表面,再用CCD采其變形前后表面散斑顆粒干涉形成的條紋,以測定其離面位移的新型,先進的測試技術。本實驗裝置可以使學生了解其原理和測量的方法。
儀器特點:自己調節光路,可提高動手能力;
采用了zuixin處理光學信息的CCD測量技術
計算機處理圖象,軟件操作簡便
可利用軟件畫出測試表面受力變形后的三維立體圖。
成套性:CCD攝像頭、氦氖激光器、圖象采集卡、圖象處理軟件、精密調節桿、光學零件、被測樣品。技術資料