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球面光學元件顯微檢測儀Sphere-3000

銷售范圍售全國

入駐年限第10年

營業(yè)執(zhí)照已審核

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聯(lián)系方式：400-822-6768

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產品特點

顯微測定微小領域的反射率物鏡對焦于被測物微小區(qū)域（φ60μm）

CIE顏色測定 X Y色度圖，x, y, L, a, b, 飽和度，主波長等

檢測速度快高性能探測器，能在幾秒內實現(xiàn)重現(xiàn)性高的測定

消除背面反射光無需進行背面防反射處理即可快速準確地測定表面反射率

Sphere-3000-Ⅱ 球面光學元件反射率測量儀.png

Sphere-3000光學元件反射率測量儀
儀器能快速準確地測量各類球面/非球面光學器件的相對反射率。適用于凸透鏡、凹透鏡、鏡片等的鍍膜反射率測量，還可進行有干涉條紋的單層膜厚或折射率測量。
特點：

技術參數

型號	Sphere-3000（II型）	Sphere-3000（III型）	Sphere-3000（NIR）
檢測范圍	380~1100nm	380~1000nm	900~1700nm
波長分辨率	1nm	1nm	3nm
相對檢測誤差	0.75%	0.5%	0.5%
測定方法	與標準物比較測定
被測物再現(xiàn)性	±0.1%以下（380nm~410nm） ±0.05%以下 (410nm~900nm)	±0.1%以下（380nm~400nm） ±0.05%以下 (400nm~900nm)	±0.1%以下 (1000nm~1600nm)
單次測量時間	＜1S
精度	0.3nm
被測物N.A.	0.12(使用10×對物鏡時) 0.24(使用20×對物鏡時)
被測物尺寸	直徑>1mm 厚度>1mm(使用10×對物鏡時) 厚度>0.5mm(使用20×對物鏡時) 厚度>0.1mm(使用50×對物鏡時)
被測物測定范圍	約φ100μm(使用10×對物鏡時) 約φ60μm(使用20×對物鏡時) 約φ30μm(使用50×對物鏡時)
設備重量	約22kg（光源內置）
設備尺寸	300(W)×550(D)×570(H)mm
使用環(huán)境	水平且無振動的場所溫度：23±5℃；濕度：60％以下、無結露，
操作系統(tǒng)	Windows7~Windows10
軟件	分光反射率、物體顏色、單層膜厚（有干涉條紋）和鍍膜（有干涉條紋）折射率測定