塞貝克系數/電阻率測試系統

        華測儀器研發了一系列簡單易用和優異的材料表征儀器。華測儀器的HC-RD-1100可以同時測定樣品在 RT至1500°C溫度范圍內的塞貝克系數和電阻率。 熱功率、熱電勢、或塞貝克系數描述的都是材料在一定溫差條件下產生感應熱電電壓的大小，單位是V/K。 近年來直接將熱能轉化成電能的方法引起人們的廣泛興趣。通過熱電裝置收集熱發動機和燃燒系統余熱并轉 換成電能可以節省數十億美元。 為了應對一系列挑戰性的應用，華測儀器已經開發出HC-RD-1100 塞貝克系數/電阻率測試系統用于分析材料 和器件的特性。

應用領域：

熱電材料開發與性能優化

?測量半導體、方鈷礦、Skutterudite等熱電材料的塞貝克系數與電導率，計算ZT值（熱電優值）；

?評估材料在高溫（如1500℃）或極端環境（真空/還原氣氛）下的熱電轉換效率。

能源材料與器件研究

?鋰離子電池電極材料、固態電解質的電阻率與界面接觸特性分析；

?燃料電池催化劑在氧化/還原氣氛中的導電性能測試。

電子與功能材料表征

?半導體薄膜、導電高分子、金屬氧化物的電輸運特性研究；

?高溫超導材料、陶瓷基復合材料的電阻-溫度關系曲線測定。

工業材料質量控制與工藝優化

?合金、陶瓷、碳材料的熱-電協同性能檢測，指導燒結工藝參數調整；

?高溫涂層、耐腐蝕材料在模擬工況（如真空、惰性氣氛）下的電學行為評估。

科研與標準化測試

?高校及科研院所用于熱電效應、導電機制等基礎理論研究；

?依據國際標準（如ASTME1225）開展材料熱電性能認證測試。

產品優勢

?支持RT至1500℃超寬溫度范圍，兼容低溫至超高溫測試，滿足熱電材料、高溫合金等多種材料研究需求；

?提供惰性、氧化、還原、真空多氣氛環境，適配材料在不同反應條件下的性能評估。

高精度與多功能集成

?塞貝克系數測量范圍1～2500μV/K，準確度達±7%，重復性±3%，捕捉微弱熱電效應；

?電導率測量范圍覆蓋0.01～2×105S/cm，準確度±5～8%，支持從絕緣體到導體的全品類材料電阻率分析；

?采用靜態直流法（塞貝克系數）與四端法（電阻率），確保測量結果穩定可靠。

靈活兼容性與操作便捷性

?支持圓柱形（φ6mm）、棱柱形（2~5mm面寬）及圓盤狀（10~25.4mm）多種樣品尺寸，適配復雜形狀試樣；

?可調探頭距離（4/6/8mm）與三明治夾持結構，保障樣品接觸穩定性，減少測量誤差；

?電極材料可選鎳（-100～500℃）或鉑（-100～1500℃），靈活應對不同溫區與材料特性。

高穩定性與長周期測試能力

?電源輸出0～1A，具備長期穩定性，支持連續高溫實驗與長時間數據采集；

?配備K/S/C型熱電偶，實現溫度監控與閉環控制。