Jandel可調(diào)節(jié)高度的自動探頭

Jandel工程有限公司提供了可調(diào)節(jié)高度探針臺的自動Z運動(AFPP)用于進行四點探針測量。

AFPP可以用于測量各種各樣的小樣本大小薄層和300毫米晶圓錠250毫米高(厚的樣品安置在請求)。

可以使用AFPP獨立提供的電源適配器,或者可以動力和由Jandel RM3000使用單一鉛連接這兩個工具之間。

系統(tǒng)配置

組成部件（產(chǎn)品配置）：

1. 1. 測試臺1個

2. 2. AFPP主機1個

3. 3. 可調(diào)節(jié)高度的軸桿1根

4. 4. 四探針探頭1個

5. 5. 電纜線一根

設備尺寸

1. 1. 可調(diào)節(jié)高度測試臺：W×L×H（mm）320×370×8

2. 2. AFPP主機：W×L×H（mm）64×215×67

3. 3. 可調(diào)節(jié)高度軸桿:d（mm）19；L（mm）200（可定制最高額高度到1000mm）