XAFS/XES 設備特點
- 無需同步輻射光源
- 科研級別譜圖效果
- 臺式設計，實驗室內使用
- 可外接儀器設備，控制樣品條件
- 可實現多個樣品或多種條件測試
- 操作便捷、維護成本低
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Quantum Design XAFS300+ 臺式X射線吸收精細結構譜儀 XAFS
- 品牌：美國Quantum Design
- 型號： XAFS300+
- 產地：美洲 美國
- 供應商報價：￥8000000
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上海愛儀通網絡科技有限公司
更新時間：2025-07-22 08:47:17 -
銷售范圍售全國
入駐年限第4年
營業執照已審核
- 同類產品X射線吸收精細結構譜儀（XAFS）(4件)
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臺式X射線吸收精細結構譜儀-XAFS/XES
美國easyXAFS公司推出臺式X射線吸收精細結構譜儀，采用獨有的X射線單色器設計，無需同步輻射光源，在常規實驗室環境中實現X射線吸收精細結構測量和分析，以超高靈敏度和光源質量，實現對元素的測定、價態和配位結構分析等。此外，該設備還能夠進行X射線發射譜測試(XES)，該表征本質上是超高能量分辨率的X射線熒光光譜(high-resolution XRF)。XAFS和XES可以對樣品的局部電子結構實現信息互補。廣泛應用于電池、催化劑、環境、放射性化學、地質、陶瓷等研究領域。
XAFS/XES 設備參數
X射線源：
XAFS: 1.2-kW XRD(Mo/Ag)
XES: 100W XRF 空冷管(Pd/W)
能量范圍：4.9-20.5keV分辨率：0.5-1.5eV
樣品塔：8位自動樣品輪
布拉格角：55-85 degXAFS300+
高功率版，兼容XAFS和XES功能，固定光源模式。該型號使用與XAFS300相同的高功率1200W射線管作為光源，用于X射線吸收譜功能XAFS；同時配備低功率100W 的X射線管和電源，用于X射線發射譜測試(XES)。
滬公網安備 31011502008050號