-
-
EPMA-8050G 場發(fā)射電子探針
- 品牌:島津Shimadzu
- 產(chǎn)地:亞洲 日本
- 供應(yīng)商報價:面議
-
廣州領(lǐng)拓儀器科技有限公司
更新時間:2025-05-29 09:48:54
-
銷售范圍售全國
入駐年限第10年
營業(yè)執(zhí)照已審核
- 同類產(chǎn)品表面分析(6件)
立即掃碼咨詢
聯(lián)系方式:400-8084333
聯(lián)系我們時請說明在儀器網(wǎng)(www.yosen.net.cn)上看到的!
掃 碼 分 享 -
為您推薦
產(chǎn)品特點
- 從SEM觀察條件到1μA量級,在各種束流條件下都擁有無與倫比卓越空間分辨率的尖端場發(fā)射電子光學(xué)系統(tǒng)。結(jié)合島津傳統(tǒng)的高性能X射線譜儀,將分析性能發(fā)揮至極致。
詳細介紹
范圍
· 硬度標(biāo)尺 :4Be~92U
· 發(fā)射源:搭載高亮度肖特基發(fā)射體
· 二次電子圖像分辨率:3nm(加速電壓30kV)
· X射線取出角角度:52.5°,ZD限度減少X射線被吸收
· 分光晶體:全聚焦型
· X射線譜儀:高靈敏度、高分辨率型
優(yōu)點
1 高亮度肖特基發(fā)射體
場發(fā)射電子槍采用的肖特基發(fā)射體比一般傳統(tǒng)SEM使用的發(fā)射體針尖直徑更大,輸出更高。即可以保持其高亮度,還可提供高靈敏度分析不可缺少的穩(wěn)定大電流。2 EPMA專用電子光學(xué)系統(tǒng)
電子光學(xué)系統(tǒng),聚光透鏡盡可能的接近電子槍一側(cè),交叉點不是靠聚光透鏡形成,而是由安裝在與物鏡光闌相同位置上,具有獨立構(gòu)成與控制方式的可變光闌透鏡來形成交叉點的。簡單的透鏡結(jié)構(gòu),既能獲得大束流,同時全部電流條件下設(shè)定最合適的打開角度,將電子束壓縮到最細。當(dāng)然是不需要更換物鏡光闌的。3 超高真空排氣系統(tǒng)
電子槍室、中間室、分析腔體之間分別安裝有篩孔(orifice)間隔方式的2級差動排氣系統(tǒng)。中間室與分析腔體間的氣流孔做到最小,以控制流入中間室的氣體,使電子槍室始終保持著超高真空,確保發(fā)射體穩(wěn)定工作。4 高靈敏度X射線譜儀
最多可同時搭載5通道兼顧高靈敏度與高分辨率的4英寸X射線譜儀。52.5°的X射線取出角在提高了X射線信號的空間分辨率的同時,又可減小樣品對X射線的吸收,實現(xiàn)高靈敏度的分析。
您可能感興趣的產(chǎn)品
-
EPMA-8050G 場發(fā)射電子探針
-
島津場發(fā)射電子探針EPMA-8050G
-
島津EPMA-8050G場發(fā)射電子探針
-
CAMECA 場發(fā)射電子探針 SXFiveFE
-
CAMECA 場發(fā)射電子探針 SXFiveFE
-
JXA-iHP200F 場發(fā)射電子探針顯微分析儀
-
JXA-8530F Plus 場發(fā)射電子探針顯微分析儀
-
JEOL場發(fā)射電子探針顯微分析儀JXA-iHP200F
-
場發(fā)射電子顯微鏡
-
場發(fā)射掃描電鏡-國儀量子場發(fā)射掃描電鏡 SEM5000Pro
-
場發(fā)射透射電子顯微鏡
-
臺式場發(fā)射掃描電鏡