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美國PHI 高性能飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀
- 品牌:美國PHI
- 型號(hào): 02
- 產(chǎn)地:美洲 美國
- 供應(yīng)商報(bào)價(jià):面議
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束蘊(yùn)儀器(上海)有限公司
更新時(shí)間:2025-07-16 15:08:40
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銷售范圍售全國
入駐年限第8年
營業(yè)執(zhí)照已審核
- 同類產(chǎn)品飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀(5件)
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產(chǎn)品特點(diǎn)
- TOF-SIMS 中,根據(jù)分子結(jié)構(gòu)反映的質(zhì)譜,能更詳細(xì)的對(duì)
化學(xué)結(jié)構(gòu)進(jìn)行分析。 詳細(xì)介紹
產(chǎn)品介紹:
01. TRIFTTM 三次聚焦分析儀適用於無論是平面或非平面及形狀復(fù)雜的樣品
02. 革新的離子以實(shí)現(xiàn)高精度的測量
03. 多種濺射離子實(shí)現(xiàn)三維成像的深度分析
04. SmartSoft?-TOF 軟件,使得樣品分析操作更簡單容易
05. 多功能樣晶處理
06. 雙束電荷中和質(zhì)譜分析TOF-SIMS 中,根據(jù)分子結(jié)構(gòu)反映的質(zhì)譜,能更詳細(xì)的對(duì)化學(xué)結(jié)構(gòu)進(jìn)行分析。
影像分析影像的分辨率,測量時(shí)有種可供選擇: 256 x 256 ,512x512, 1024x1024 ,每個(gè)像素點(diǎn)都存貯著質(zhì)譜的信息。測量之后,任伺區(qū)域的質(zhì)譜都可以在後數(shù)據(jù)處理時(shí)提取出來。
深度剖析TOF-SIMS 中,經(jīng)過反復(fù)測量和濺射,得到深層的結(jié)構(gòu)。
這段期間內(nèi),所有的質(zhì)譜都會(huì)被保存,完成測量后,任意深度的質(zhì)譜都可以在後數(shù)據(jù)處理時(shí)提取出來。
三維剖析深度概況的數(shù)據(jù)源于在深度改變時(shí)樣品結(jié)構(gòu)的變化,在進(jìn)行完深度分析後不僅可以擁有內(nèi)部的信息,
三維構(gòu)筑的信息也可以得到。
多功能樣品處理樣晶托提供了兩種類型的標(biāo)準(zhǔn)樣晶托,有直徑25mm ,樣晶在樣晶托背面安裝并固定( Back-mount) ,
能放個(gè)樣品的樣品托,方便對(duì)準(zhǔn)樣晶高度。也有直接在樣晶托正面安裝樣晶,可放置和樣晶托一般
大小的樣晶 (100mm ,方便制樣。加熱冷卻樣品托用液氮冷卻和用加熱器加熱樣晶臺(tái),在-150t 200t 之間可控。樣晶托上配有溫度感應(yīng)裝置,當(dāng)樣晶
在進(jìn)樣室開始,軟件即馬上顯示實(shí)時(shí)溫度回讀。另外也可以選配比較高可達(dá)600t只做加熱的樣晶托。
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