產品介紹：

旨在提高從研究應用到常規應用的生產率

K-Alpha 光譜儀的光譜分析性能顯著改善。這一巨大的進步可實現更快的分析、更好的元素檢測以及獲得更高分辨率的數據以實現更好的化學狀態鑒定的可能性。

分析選件包括一個用于將空氣敏感樣品從手套箱轉移到系統的真空傳遞模塊以及用于 ARXPS 數據采集的傾斜模塊。配備 Thermo Scientific? Avantage 數據系統（全面的表面分析軟件系統），K-Alpha 具有一系列的軟件功能，設計用于優化數據解讀、數據報告和可用性。K-Alpha XPS 系統可滿足經驗豐富的 XPS 分析員和新手的要求，將高性能單色 XPS 和濺射深度剖析與智能自動化和直觀控制結合在一起。

強大的性能

• 可選面積能譜分析

• 濺射深度剖析

• 微聚焦單色器

• 快照采集

• 高分辨率化學狀態能譜分析

• 絕緣樣品分析

• 定量化學成像

無以倫比的易用性

• 采集 — 光譜、圖像、曲線、線掃描

• 解讀 — 元素和化學狀態鑒定

• 處理 — 定量、峰擬合、實時曲線顯示、光譜圖像處理、PCA、相分析、TFA、NLLSF、PSF 扣除、光學/XPS 圖像疊加

• 報告 — 自動生成報告且可輕松導出到其他軟件包

• 控制 — 所有硬件都通過 Avantage 軟件界面進行控制

• Avantage Indexer — 數據存檔管理

• 審計跟蹤記錄

• 系統性能記錄

• 按需校準

• 完全遠程操控

主要特點

• 分析儀 — 180° 雙聚焦半球形分析儀，配備128通道檢測器

• X 射線源 — Al Ka 微聚焦單色器，光斑尺寸可變

• 離子槍 — 能量范圍 100-4000 eV

• 電荷補償 — 雙束源

• 樣品量 — 4軸樣品臺、60 x 60 mm 樣品區域、20 mm 最 大樣品厚度

• 選件 — 真空轉移模塊、ARXPS 傾斜模塊、樣品偏倚模塊