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美國Radiant Precision Multiferroic II鐵電材料測試系統

品牌：
型號： Precision Multiferroic II
產地：
供應商報價：面議

杭州雷邁科技有限公司更新時間：2025-01-10 13:06:54

銷售范圍售全國

入駐年限第8年

營業執照已審核

同類產品Radiant鐵電測試儀(5件)

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產品特點

美國RADIANT是目前市面上進的鐵電測試儀，集頻率響應、電壓范圍和精度于一體。系統配有一個快速的遲滯額定頻率270kHz的+/-100v,使得薄膜和散裝陶瓷的測試變得快速和簡單。

詳細介紹

美國Radiant Precision Multiferroic II鐵電材料測試系統

Precision Multiferroic II是市面上進的鐵電測試系統。具有獨特的頻率等級270khz在+ / - 100V的內置系統，實現對薄膜和塊體陶瓷快速而簡單的測試。

Premier Multiferroic II無需改變測試樣品的連接，即可實現滯回，脈沖，漏電，IC,IV的測試。配備額外的模塊，可實現熱釋電性能、磁電特性、晶體管特性、低溫性能、塊體陶瓷和/或薄膜壓電性能的測試。

Precision Multiferroic II提供了多種內部放大器，±100V/200V/500v內置驅動電壓的可供選擇。可外置擴展10KV的高壓接口和一個放大器。系統包括可視化數據采集和管理系統軟件。

可實現的測試功能：

1.電滯回線測試；

2.記憶特性測試；

3.漏電流測試；

4.疲勞測試；

5.脈沖測試；

6.IV測試；

7.CV測試保持力測試；

8.印痕測試；

備注：另外還有壓電測試、熱釋電測試、磁電測試需配合另外升級選件實現。

Tester Parameter ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ??	Multiferroic II
Voltage Range (built-in ? drive voltage)	±10V,? ±30V, ±100V, ±200V or ? ±500V built-in
Voltage Range with an ? external amplifier and high voltage interface (HVI)	10KV ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ?
Number of ADC Bits	18
Minimum Charge Resolution	0.80fC
Minimum Area Resolution ? (assuming 1 ADC bit = 1μC/cm2)	0.080μ2
Maximum Charge Resolution	5.26mC
Maximum Area Resolution ? (assuming saturation polarization = 100μC/cm2)	52.6cm2
Maximum Charge Resolution ? with High Voltage Interface (HVI)	526mC
Maximum Area Resolution ? (assuming saturation polarization = 100μC/cm2) w/o HVI	>100cm2 ? ??
Maximum Hysteresis Frequency	270KHz @ 10V ? ??
	270KHz @ 30V
	270KHz @ 100V
	100KHz @ 200V
	5KHz @ 500V
Minimum Hysteresis Frequency	0.03Hz
Minimum Pulse Width	0.5μs
Minimum Pulse Rise Time (5V)	400ns
Maximum Pulse Width	1s
Maximum Delay between Pulses	40ks
Internal Clock	25ns
Minimum Leakage Current ? (assuming max current integration period = 1 seconds)	1pA
Maximum Small Signal Cap ? Frequency	1MHz
Minimum Small Signal Cap ? Frequency	1Hz
Output Rise Time Control	105 scaling
Input Capacitance ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ??	-6fF
Electrometer Input All Test ? Frequencies for all test at any speed?	Yes
* The minimum area ? resolution under actual test conditions depends upon the internal noise ? environment of the tester, the external noise environment, and the test jig ? parasitic capacitance.
*** Tester specifications ? are subject to change without notice.