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賽默飛世爾 掃描電子顯微鏡 Phenom ProX Desktop SEM
- 品牌:賽默飛世爾
- 型號: Phenom ProX Desktop SEM
- 產地:美洲 美國
- 供應商報價:面議
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賽默飛電子顯微鏡
更新時間:2025-07-03 16:17:44
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銷售范圍售全國
入駐年限第8年
營業執照已審核
- 同類產品臺式掃描電鏡(9件)
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為您推薦
產品特點
- Desktop SEM 具有 EDS 功能,可實現穩健、輕松且多功能的元素以及 SEM 分析。
詳細介紹
產品介紹:
第六代 Thermo Scientific Phenom ProX G6 Desktop SEM 可填補光顯微鏡和落地式 SEM 分析之間的差距,擴展了研究設施的能力。除了集成式能量色散 X 射線衍射 (EDS) 檢測器之外,還提供快速、高分辨率的成像,可實現可靠、易用的快速元素分析。
主要特點
可靠且使用方便
Phenom Pro Desktop SEM 可減輕落地式 SEM 儀器常見樣品的常規分析負擔。儀器配置和樣品加載機制可確保快速成像,并在兩次實驗之間花費最少的時間進行調整。
長壽命的 CeB6 源
任何經驗水平的設施用戶均可通過 Phenom Pro Desktop SEM 快速開始生成高質量結果。它經久耐用的 CeB6 源在需要較低維護的情況下也能提供高亮度。
堅固和小巧的外形
它的高穩定性和小外形尺寸使得該儀器幾乎可以在任何實驗室環境中使用;簡而言之,它不需要專門的基礎設施或專家監督。
規格
光學放大率 27–160x
電子光學放大率范圍 160-350,000x
分辨率 ≤ 6 nm SED 和 ≤ 8 nm BSD
數字變焦 最 大 12x
光學導航攝像頭 彩色
加速電壓 默認: 5 kV、10 kV 和 15 kV
高級模式:可在 4.8 kV 至 20.5 kV 成像與分析模式之間調節范圍
真空模式 高真空模式
通過可選低真空樣品架實現減少電荷模式
檢測器 背散射電子檢測器(標配)
能量色散型 X 射線檢測儀(標配)
二級電子檢測器(可選)
樣本尺寸 最 大直徑 25 mm (可選 32 mm)
樣品高度 最 大 35 mm (可選 100 mm)
技術資料
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