三維光學輪廓儀Contracx-200提供了先進的特性，可定制的選擇完美的混合，并易于使用的最佳級別，快速，準確，可重復的非接觸式三維表面計量。

該量具能力，小足跡系統提供了不妥協的2D/3D高分辨率測量能力，使用更大的FOV 5 MP數碼相機和新的機動XY舞臺。由于擁有無與倫比的Z軸分辨率和精度，三維光學輪廓儀Contracx-200提供了Bruker公司專有的白光干涉測量(WLI)技術的所有業界公認的優勢，而不受傳統共焦顯微鏡和標準光學輪廓儀的限制。

不妥協，好的等級計量學

基于40多年的專利WLI創新，三維光學輪廓儀Contracx-200顯示了低噪聲、高速、精確和精確的結果，這是定量計量學所需要的。通過使用多個目標和集成的特征識別，特征可以在不同的視域和亞納米垂直分辨率上進行跟蹤，為質量控制和過程監控在非常多樣化的行業中的應用提供獨立的結果。三維光學輪廓儀Contracx-200在所有表面情況下都是穩健的，反射率從0.05%到100%不等.新的硬件功能包括創新的舞臺設計更大的拼接能力和一個5MP相機與1200x1000的測量陣列，以降低噪音，更大的視場，和更高的橫向分辨率。

最廣泛的應用分析能力

使用強大的VisionXpress和Vision 64用戶界面，三維光學輪廓儀Contracx-200為實驗室和工廠樓層的生產率提供了數千種定制分析。Bruker的新的通用掃描干涉測量(USI)測量模式提供了全自動的、自感知的表面紋理、優化的信號處理，同時提供了對正在分析的表面形貌的最精確和真實的計算。該系統的新相機提供的更大的視場和新的機動XY級提供的靈活性使更多的靈活性和更高的吞吐量范圍廣泛的樣品和部件。硬件和軟件結合在一起，提供流線型的最高光學性能，完全超過可比的計量能力。