布魯克的最 新一代 QUANTAX EDS  XFlash? 7 能譜探頭具有最 大的采集立體角 ( Solid Angle) 和更高的輸出計數率。

XFlash? 7 繼續引領掃描電子顯微鏡 (SEM) 、聚焦離子束 (FIB-SEM) 和電子探針 (EPMA) 上能譜分析的性能與功能的標準。

XFlash? 7 探頭還為 TEM 和 SEM 中可以透過電子的樣品提供了優化的解決方案，此外，獨特的 XFlash? FlatQUAD 為一些高難度樣品提供了更好的解決辦法。

Slim-line 技術，大立體角設計，最 新一代脈沖處理器，以及維護預警系統使系統運行時間達到最 大化。

更好的能量分辨率和采譜性能。

精致的定量算法，獨特的有標樣和無標樣定量分析方法有效提高了分析結果的準確性。