組合式多功能X射線衍射儀和高分辨率X射線衍射儀廣泛應用于各種材料結構分析的各個領域。分析的材料包括：金屬材料、無機材料、復合材料、有機材料、納米材料、超導材料。可以分析的材料狀態包括：粉末樣品、塊狀樣品、薄膜樣品、微區微量樣品。廣泛應用于粘土礦物、水泥建材、環境粉塵、化工制品、藥品、石棉、巖礦、聚合物等研究領域。

DX系列衍射儀是為材料研究和工業產品分析設計的，是常規分析與特殊目的測量相結合的完善產品。
　　硬件系統和軟件系統的緊密結合，滿足不同應用領域學者、科研者的需要
　　高精度的衍射角度測量系統，獲取更準確的測量結果
　　高穩定性的X射線發生器控制系統，得到更穩定的重復測量精度
　　各種功能附件滿足不同測試目的需要
　　程序化操作、一體化結構設計，操作簡便、儀器外型更美觀

X射線衍射儀是揭示材料晶體結構和化學信息的一種通用性測試儀器：
　　未知樣品中一種和多種物相鑒定
　　混合樣品中已知相定量分析
　　晶體結構解析（Rietveld結構分析）
　　非常規條件下晶體結構變化（高溫、低溫條件下）
　　薄膜樣品分析，包括薄膜物相、多層膜厚度、表面粗糙度，電荷密度
　　微區樣品的分析
　　金屬材料織構、應力分析

完善的品質與卓越性能的結合
　　DX系列衍射儀除了基本功能外，可快速配置各種附件，具有很強的分析能力
　　高精度的機械加工，使附件安裝位置的重現性大大地提高，軟件自動識別相應附件，不需要對光路進行校準，附件安裝實現即插即用，最簡單的操作就可滿足特殊目的測量的需要。

高性能與實用的緊密結合
　　基于θ-θ幾何光學設計，便于樣品的制備和各種附件的安裝
　　金屬陶瓷X射線管的應用，極大提高衍射儀運行功率
　　封閉正比計數器，耐用免維護
　　硅漂移探測器具有優越的角度分辨率和能量分辨率，測量速度提高3倍以上
　　豐富的衍射儀附件，滿足不同分析目的需要
　　衍射儀各種功能附件自動識別
　　模塊化設計或稱即插即用組件，操作人員不需要校正光學系統，就能正確使用衍射儀相應附件

數據處理軟件包括以下功能
　　基本數據處理功能（尋峰、平滑、背景扣除、峰形擬合、峰形放大、譜圖對比、Kα1、α2剝離、衍射線條指標化等）
　　無標準樣品快速定量分析
　　晶粒尺寸測量
　　晶體結構分析（晶胞參數測量和精修）

　　宏觀應力測量和微觀應力計算
　　多重繪圖的二維和三維顯示
　　衍射峰圖群聚分析
　　衍射數據半峰寬校正曲線
　　衍射數據角度偏差校正曲線
　　基于Rietveld常規定量分析
　　使用ICDD數據庫或是用戶數據庫進行物相定性分析
　　使用ICDD數據庫或是ICSD數據庫進行定量分析