-
-
日本JEOL 透射電子顯微鏡EM-ARM300F GRAND ARM GRAND ARM
- 品牌:日本電子
- 型號: EM-ARM300F
- 產地:亞洲 日本
- 供應商報價:面議
-
深圳市藍星宇電子科技有限公司
更新時間:2025-07-25 10:32:41
-
銷售范圍售全國
入駐年限第7年
營業執照已審核
- 同類產品日本電子 JEOL 掃描電鏡(35件)
立即掃碼咨詢
聯系方式:13538131258
聯系我們時請說明在儀器網(www.yosen.net.cn)上看到的!
掃 碼 分 享 -
為您推薦
產品特點
- 日本JEOL JEM-ARM300F GRAND ARM 透射電子顯微鏡,實現了世界Z高掃描透射像(STEM-HAADF)分辨率,配備了JEOL自主研發的球差校正器,Z高加速電壓可達300kV,是一款原子級分辨率電子顯微鏡。實現了世界Z高的STEM-HAADF像分辨率。
詳細介紹
JEM-ARM300F GRAND ARM 透射電子顯微鏡
JEM-ARM300F 實現了世界最高掃描透射像(STEM-HAADF)分辨率,配備了JEOL自主研發的球差校正器,最高加速電壓可達300kV,是一款原子級分辨率電子顯微鏡。實現了世界最高的STEM-HAADF像分辨率。
產品規格:
分辨率
300 kV,80 kV
物鏡種類※1
UHR極靴
HR極靴
STEM分辨率(300kV) 使用STEM校正器
0.058nm
0.063nm
TEM分辨率(300 kV)
線分辨率0.05nm
線分辨率0.06nm
使用TEM校正器
非線性信息分辨極限0.06nm
非線性信息分辨極限0.07nm
線性信息分辨極限0.09nm
線性信息分辨極限0.12nm
產品特點:
· 實現了世界最高掃描透射像(STEM-HAADF)分辨率
· JEM-ARM300F配備了JEOL自主研發的球差校正器,最高加速電壓可達300kV,是一款原子級分辨率電子顯微鏡。實現了世界最高的STEM-HAADF像分辨率。
· STEM-HAADF像的保證分辨率達到了前所未有的58pm
· 采用JEOL自主研發的球差校正器,掃描透射像(STEM像)的保證分辨率可達58pm(300kV,超高分辨率極靴、使用STEM球差校正器時)。
· ETA校正器 JEOL自主研發的12極球差校正器 ※選配件
· ETA校正器(Expanding trajectory aberration corrector)是JEOL研發的擴展軌道型12極球差校正器。可以在用戶現場加裝STEM球差校正器及TEM球差校正器。
· 強大的冷場發射電子槍HyperCF300
· 標配了全新設計的冷場發射電子槍,低能散、高亮度電子束能提供高分辨率觀察和分析。
· 兩種物鏡極靴
· 為了支持用戶廣泛的需求,研發了兩種各具特點的物鏡極靴。
· 豐富的選購件
· 能安裝超大立體角EDS(能譜儀)、EELS(電子能量損失譜儀)、背散射電子檢測器及四種STEM觀察檢測器。
· 大范圍的加速電壓設置
· 標配300kV和80kV下的球差校正數據,可選的加速電壓范圍從40KV?300kV,使用范圍極廣。
· 新開發的真空系統
· 新的排氣系統達到了極高的真空度,在原子尺度的圖像觀察和分析中,最大限度地減輕了對樣品的污染和損傷。
· 高穩定的鏡筒和樣品臺
· 整體穩定性高、直徑330mm的鏡筒增加了機械剛度, 在JEM-ARM200F高度穩定的技術基礎之上,把電氣穩定性和對環境的抗干擾能力提高到新高度。