Filmetrics F20 光學膜厚測量儀

選擇 Filmetrics 的優(yōu)勢
桌面型薄膜厚度測量的全球
24 小時電話， Email，在線支持
直觀的分析軟件

附 加 特 性
嵌入式在線診斷方式
免費離線分析軟件
精細的歷史數(shù)據(jù)功能，幫助用戶有效的存儲，重現(xiàn)與繪制測試結(jié)果

免費現(xiàn)場演示/支持
點幾下鼠標就可以在網(wǎng)絡(luò)上在線看到現(xiàn)場演示！請聯(lián)系我們，我們的應(yīng)用工程師會在電腦上為您演示薄膜測量是多么容易

性價比的先進薄膜厚度測量系統(tǒng)
使用 F20 高級頻譜反射測量系統(tǒng)，我們能輕松的實現(xiàn)對膜層厚度和光學常數(shù)(n 和 k 值)的測量。通過對膜層頂部、底部反射光譜進行分析，數(shù)秒內(nèi)我們即可得到膜層的厚度、折射率和消光系數(shù)。
通過內(nèi)置的獨立軟件和 USB 接口，能夠很容易的把 F20 安裝在任何的 Windows 電腦平臺上。健全的軟件材料庫(100 多種材料)，極大的滿足了對各種不同膜層結(jié)構(gòu)測量的需要，包括對單層、多層或獨立膜層的測量。透過測量樣品的光學常數(shù)或導(dǎo)入已存在的資訊，能夠在材料庫內(nèi)快速的增加新材料。
可測樣品膜層
基本上所有光滑的、半透明的或低吸收系數(shù)的薄膜都可以測量。這包括幾乎所有的電介質(zhì)與半導(dǎo)體材料，例如：
氧化硅 氮化硅 類金剛石 DLC
光刻膠 聚合物 聚酰亞胺
多晶硅 非晶硅 硅