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日本理學ZSX Primus III+ X射線熒光光譜儀
- 品牌:日本理學
- 型號: ZSX Primus III+ X
- 產地:亞洲 日本
- 供應商報價:¥1500
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北京冠遠科技有限公司
更新時間:2025-01-06 13:35:28
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銷售范圍售全國
入駐年限第7年
營業執照已審核
- 同類產品日本理學ZSX Primus III+ X射線熒光光譜儀 (1件)
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- 日本理學ZSX Primus III+ X射線熒光光譜儀 核心參數
產品特點
- 日本理學ZSX Primus III+ X射線熒光光譜儀在處理樣品的時候精度定位確保樣品表面與X射線管之間的距離保持恒定,這對于要求高精度的應用很重要,例如合金分析。ZSX Primus III +采用獨特的光學配置進行高精度分析,可實現粉末、固體樣品不同元素不同含量的高精度分析。
詳細介紹
日本理學ZSX Primus III+ X射線熒光光譜儀可在慢速和快速直接切換抽真空和卸真空速率,使粉末和金屬樣品的樣品處理量達到標準形式,真空室內飄散粉末損壞光管的風險,以很少的標準在各種樣品類型中快速定量測定從氧氣(O)到鈾(U)的主要和次要原子元素,具有創新的光學上述配置,由于樣品室的維護,再也不用擔心被污染的光束路徑或停機時間。光學元件以上的幾何結構消除了清潔問題并延長了使用時間,并且無需在進行粉末樣品分析時使用粘合劑,使樣品制備更快捷簡便。
產品特點:
1、操作界面簡潔、自動化程度高;
2、元素從O到U的分析;
3、樣品室可簡單移出方便清潔;
4、管道上方的光學器件使污染問題最小化;
5、特殊光學系統減少樣品表面不平而引起的誤差;
6、占地面積小,使用的實驗室空間有限;
7、精度定位樣品臺滿足合金分析高精度要求;
8、統計過程控制軟件工具(SPC)吞吐量可以優化疏散和真空泄漏率。
日本理學ZSX Primus III+ X射線熒光光譜儀在處理樣品的時候精度定位確保樣品表面與X射線管之間的距離保持恒定,這對于要求高精度的應用很重要,例如合金分析。ZSX Primus III +采用獨特的光學配置進行高精度分析,可實現粉末、固體樣品不同元素不同含量的高精度分析。
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分析元素 | 5.5 | 檢出限 | 7.8 |
重復性 | 6.3 | 檢測時間 | 025 |
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