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二次離子質譜工作站
- 品牌：Hiden Analytical
- 型號： SIMS
- 產地：歐洲 英國
- 供應商報價：面議
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北京英格海德分析技術有限公司
更新時間：2021-12-23 16:54:49 -
銷售范圍售全國
入駐年限第10年
營業執照已審核
- 同類產品等離子體-材料表面(18件)
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產品特點
- 整合的離子源，便于RGA和SNMS；
各類型樣品的快速轉向；
陰、陽離子、中性粒子、自由基的質量、能量分析儀。 詳細介紹
產品簡介
SIMS 工作站(SIMS Workstation－a complete SIMS Analysis Facility) ，綜合UHV / SIMS 設備，進行高級的表面分析?？煽康?、普遍適用的SIMS分析工作站。
功能特點
整合的離子槍光柵控制和信號選通，進行深度分析
絕緣體研究中的電子流槍用于電荷中和
液氮冷井和真空室烘烤加熱器
自動的SIMS 離子光學透鏡調諧和質量數列表，使SIMS性能**技術參數
Hiden EQS SIMS 分析儀，運行于 MASsoft O/S 之下，檢測限至ppb級
?基本的激發源選擇： 帶差式泵的Hiden IG20 Ion，IFG200 FAB或高性能液態鎵槍
快速樣品傳遞，樣品固定，負載鎖定的操縱器
4 軸：X, Y, Z, θ UHV 操縱器，以**定位樣品
加上ESM LabVIEW和SIMS 成像程序，進行SIMS元素成像
靜態SIMS譜圖庫可用
滬公網安備 31011502008050號