作為上掃描探針顯微鏡控制器制造商，美國RHK公司推出了革命性的新一代掃描探針顯微鏡控制平臺R9：
> 它采用了全數字化的硬件系統，噪音極低，性能優異
> 單獨的R9 SPM控制平臺可以實現所有的STM、AFM和KFM等功能
> IHDLTM軟件系統可以輕松實現對硬件和實驗過程的定義與編輯，其獨特的設計思路和開放性的軟/硬件配置為研究領域的拓展奠定了堅實的基礎 

極低噪音與超高穩定性！

開放性與靈活性極高！
	HDLTM軟件界面    R9掃描探針顯微鏡控制平臺采用了RHK獨有的IHDLTM圖像化硬件描述與編輯軟件，通過簡單的“拖放”操作，即可完成對硬件和實驗的所有設置。 同時IHDLTM全面兼容LabVIE和MATLAB，為實驗的設計提供了無限的可能。   特制的硬件系統 采用RHK特制的且優化設計的硬件模塊，利用RHK UltraDAC技術以極低的噪音水平對所有的信號進行數字化運算和處理。 硬件模塊包括：PLLs, lock-ins, filters, amplifiers, phase shifters, counters等。   強大而優異的功能 將所有SPM的功能模式集中到一起，通過軟件即可快捷的對硬件系統進行重新定義。 無需外界模塊和設備可實現包括STM、dI/dV隧道譜、接觸式&非接觸式AFM、導電AFM、開爾文探針顯微鏡KFM、SNOM等功能。 兼容所有商業化的STM/AFM系統，并實現對他們的全面控制。

功能強大，性能可靠！
	> 支持所有的掃描探針顯微鏡操作模式，包括：STM、dI/dV譜、接觸式和導電式AFM、非接觸式AFM、開爾文探針KFM等。不需要添加任何外置設備； > 支持音叉式和微懸臂式AFM； > 支持所有非接觸式AFM模式 -- PLL、Lock-in、Self Oscillation。接觸式AFM模式 -- Constant Excitation、Constant Signal和Q-control等。采用全數字式Phase Shifter，保證了系統的穩定性；； > PLL和Multiple Lock-in通道一起使用，可以同時采集多個諧頻信號； > SNOM：多個高速輸入通道可以同時對表面成像，并采集光學信號（模擬或脈沖計數）； > KFM：無需添加任何外置的設備，即可完成KFM實驗； > 全面兼容LabVIEW和MATLAB等語言與程序；