Hysitron TI 990 TriboIndenter 在控制和測試帶寬、測試靈活性、適用性、測量可靠性和系統模塊化方面取得了顯著進步，從而實現了比以前更多、更好的研究。

布魯克下一代 Hysitron TI 990 TriboIndenter? 為納米力學和納米摩擦學表征的性能、靈活性和可用性樹立了榜樣。TI 990 是布魯克領先的 TriboIndenter 平臺的全面改進，其測量和分析過程的各個方面都采用了旨在消除納米壓痕儀系統常見限制的更新技術。因此，該系統具有更多的可用測量模式 ，并在廣泛的實驗室環境中提供高精度測量。

產品特點

1. 用于原位 SPM 成像的雙壓電掃描頭

2. 高分辨率、彩色光學顯微鏡

3. 低噪聲 2D 電容式傳感器

4. 計量級花崗巖框架確保測試穩定性

5. 集成主動減振系統

6. Performech III 控制器

7. 減振底座的抗噪能力提高了 50 倍

8. 多層環境隔離罩

9. 俯視樣品臺成像

10. 使用 XPM II 超高速納米壓痕進行性能成像

11. 動態納米壓痕

12. 帶有可定制面板的模塊化外殼

13. 通用樣品夾具

14. 高精度電動/自動化平臺，可測試面積增加 60%

TI 990 具有增強的測量功能、更高的樣品靈活性、更簡單的系統設置和更簡化的操作，是適用于各種應用的優秀表征解決方案。

無論您需要提高聚合物薄膜的精度、提高組合材料科學的測試帶寬，還是需要對全 300 毫米半導體晶圓進行多參數測量分析，TI 990 都能滿足您的各種測試需求。