XU-100 是一款設(shè)計結(jié)構(gòu)緊湊，模塊精密化程度極高的鍍層測厚儀，C 型開槽設(shè)計樣品腔， 讓其滿足了既可測量超微小樣品的檢測，同時還可滿足超過樣品腔尺寸的大工件測量。

被廣泛用于各類產(chǎn)品的質(zhì)量管控、來料檢驗和對生產(chǎn)工藝控制的測量使用。

1) 搭載微聚焦加強型 X 射線發(fā)生器和先進的光路轉(zhuǎn)換聚焦系統(tǒng)，zui小測量面積達(dá) 0.03mm2

2) 擁有無損變焦檢測技術(shù)，手動變焦功能，可對各種異形凹槽件進行無損檢測，凹槽深度范圍 0-30mm

3) 核心 EFP 算法，可對多層多元素，包括同種元素在不同層都可快、準(zhǔn)、穩(wěn)的做出數(shù) 據(jù)分析

4) 配備高精密微型移動滑軌，可實現(xiàn)多點位、多樣品的精準(zhǔn)位移和同時檢測

5) 可同時分析 5 個鍍層 10 種元素，測量元素范圍:氯 Cl(17)- 鈾 U(92)，涂鍍層分析范圍:鋰 Li(3)- 鈾 U(92)，涂鍍層zui低檢出限:0.005μm

6) 人性化封閉軟件，自動判斷故障提示校正及操作步驟，避免誤操作

7) 配備φ0.2mm 準(zhǔn)直器，zui小測量面積可達(dá) 0.03mm2

8) 配有微光聚集技術(shù)，zui近測距光斑擴散度 10%

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