2016年1月，日本電子株式會社（JEOL）即全球同步推出了新款場發射透射電鏡JEM-F200。

JEM-F200進行了全新設計，在保障各種功能達到極限的同時，追求操作的簡單化和自動化，為用戶提供透射電鏡操作的全新體驗。具體特點如下：

（1）精煉的全新設計：在提高機械和電氣穩定性的同時，憑借對透射電鏡的豐富經驗，對電鏡整體進行了精煉全新設計，力求為用戶提供全新感受；

（2）高端掃描系統：在照明系統掃描功能之上又增加了成像系統的掃描功能（選購件）可以獲得大范圍的STEM-EELS；

（3）電鏡光源：冷場發射光源比其他電鏡使用的肖特基熱場發射光源能量發射度小，在TEM成像時相干性更好，圖像質量大大提高；

（4）聚光鏡匯聚方式：新電鏡采用四級聚光鏡且亮度及會聚焦分開控制，很容易獲得追加實驗條件，避免了傳統的聚光鏡亮度與會聚焦同時控制，有時會相互干擾，無法達到**狀態。

（5）物鏡匯聚方式：物鏡上采用掃描方式，可以獲得大范圍的STEM-EELS