S-4700型場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡

1、主要功能及應(yīng)用范圍：可以觀察和檢測(cè)非均相有機(jī)、無(wú)機(jī)材料，及這些材料在納米、微米級(jí)樣品的表面特征。該儀器廣泛應(yīng)用于金屬材料、高分子材料、半導(dǎo)體材料、化工原料、地礦物品、寶石文物等微觀形貌的研究及公安刑偵的物證分析。

2、主要規(guī)格及技術(shù)指標(biāo)：冷場(chǎng)發(fā)射型，二次電子圖象分辨率@15KV為1.5nm。@1KV為2.1nm, 最大放大倍數(shù)約50萬(wàn)。X射線能譜元素分析范圍B5-U92。分辨率129.25eV。

一、主要參數(shù)：

1.電子槍：冷場(chǎng)發(fā)射型；

2.分辨率：≤1.5nm（15KV）；

3.加速電壓：0.5～30KV連續(xù)可調(diào)；

4.放大倍數(shù)：低倍模式，30～2000；高倍模式，250～500000；

5.樣品要求：非磁性塊體,尺寸要求直徑≤3cm,高度≤1cm，導(dǎo)電性良好。