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賽默飛 Talos F200i 透射電子顯微鏡TEM

品牌：賽默飛
型號： Talos F200i
產(chǎn)地：美洲美國
供應(yīng)商報價：￥9999000

上海愛儀通網(wǎng)絡(luò)科技有限公司更新時間：2025-07-17 09:21:24

銷售范圍售全國

入駐年限第4年

營業(yè)執(zhí)照已審核

同類產(chǎn)品TEM 透射電子顯微鏡(11件)

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為您推薦

產(chǎn)品特點

可搭配眾多高分辨率場發(fā)射槍 (FEG)
選擇 X-FEG、高亮度 X-FEG 或超高亮度冷場發(fā)射槍 (X-CFEG)。X-CFEG 將極佳 (S)/TEM 成像及極佳能量分辨率相結(jié)合。

可搭配雙 EDS 技術(shù)
從單個 30 mm2 檢測器到用于高通量（或低劑量）分析的雙 100 mm2 檢測器中，選擇Z適合您需求的 EDS 檢測器。

高質(zhì)量 STEM/TEM 圖像和準確的 EDS
創(chuàng)新且直觀的 Velox 軟件用戶界面非常簡單，從而輕松獲得高質(zhì)量的 TEM 或 STEM 圖像。Velox 軟件中獨特的 EDS 吸收校正功能可實現(xiàn)Z準確的定量。

Z全面的原位功能
添加斷層掃描或原位樣品架。快速攝像機、智能軟件和我們的寬 X-TWIN 物鏡間隙可在盡可能不降低分辨率和分析功能的情況下實現(xiàn) 3D 成像和原位采集。

提高了生產(chǎn)率
超穩(wěn)定的色譜柱、借助 SmartCam 的遠程操作和恒定功率物鏡，可進行快速模式和高電壓 (HT) 切換。多用戶環(huán)境的快速輕松切換。

可重復(fù)性Z高的數(shù)據(jù)
所有日常 TEM 調(diào)整、例如聚焦、共心高度、電子束移位、冷凝器光闌、電子束傾斜樞軸點和旋轉(zhuǎn)中心都是自動進行的，確保您始終從Z佳成像條件開始工作。實驗可重現(xiàn)，使您可以專注于研究，而不是工具。

高速提供大視野成像
4k × 4k Ceta CMOS 攝像機及其大視野使得可以在整個高張力范圍內(nèi)以高靈敏度和高速進行實時數(shù)字縮放。

緊湊型設(shè)計
更小的占地面積和尺寸有助于在更具挑戰(zhàn)性的空間中使用此工具，同時降低基礎(chǔ)設(shè)施和支持成本。

詳細介紹

Talos F200i 透射電子顯微鏡

Thermo Scientific Talos F200i S/TEM 是一款 20-200 kV 場發(fā)射（掃描）透射電子顯微鏡，專為各種材料科學樣品和應(yīng)用要求的性能和生產(chǎn)率而設(shè)計。其標準的 X-Twin 極靴間隙在應(yīng)用中具有較高的靈活性，且與高再現(xiàn)的電子鏡筒相結(jié)合時，可用于為高分辨 2D 和 3D 表征、原位動態(tài)觀察和衍射應(yīng)用。

Talos F200i 透射電子顯微鏡優(yōu)勢

Talos F200i S/TEM 專為多用戶和多學科環(huán)境設(shè)計，也是初級用戶的理想選擇。其配備在所有 Thermo Scientific TEM 平臺上共享、能夠快速熟悉的 Thermo Scientific Velox 用戶界面。所有 TEM 的日常調(diào)整均自動完成，以提供最佳的、可重現(xiàn)性最高的設(shè)置。 Align Genie 自動化軟件簡化了新手操作員的學習曲線，降低了多用戶環(huán)境中的緊張關(guān)系，并提高了經(jīng)驗豐富的操作員的數(shù)據(jù)獲取時間。此外，可在配置中添加側(cè)面插入的可伸縮能量色散 X 射線光譜 (EDS) 監(jiān)測器來進行化學分析。

緊湊型設(shè)計

Talos F200i 的占地面積和尺寸較小，可適應(yīng)更具挑戰(zhàn)性的空間。此外，這種緊湊型設(shè)計降低了維修時的接觸難度，同時也降低了基礎(chǔ)設(shè)施和支持成本。

所有用戶的生產(chǎn)率

為進一步提高生產(chǎn)率，尤其是在多用戶多材料環(huán)境中，恒定功率物鏡、低滯后設(shè)計以及使用 SmartCam 攝像機進行遠程操作可實現(xiàn)直接可重現(xiàn)的模式和高張力切換。Talos F200i S/TEM 還提供在線學習幫助。將鼠標指針懸停在控制面板上后，只需按 F1 即可快速打開相關(guān)信息。

性能數(shù)據(jù)

TEM	線分辨率： ≤0.10 nm
操作系統(tǒng)XX 單元	控制器：Windows? 10 遠程控制：是
真空系統(tǒng)	氣鎖抽氣：無油和無振動冷阱：標準長時間杜瓦瓶：可選配 - 至少 4 天待機時間（重新補充之間）
STEM 成像	STEM 分辨率： ? ≤0.16 nm (S-FEG/X-FEG) ≤0.14 nm ，100pA (X-CFEG) 檢測器： HAADF 和/或同軸 Panther BF/DF
能量色散 X 射線光譜 (EDS)	檢測器尺寸 (Bruker X-flash)：30、100 或雙 100 mm2 可伸縮：是，電動
電子能量損失光譜 (EELS)	≤0.8 eV (S-FEG/X-FEG) ≤0.3 eV (X-CFEG)
槍亮度 200 kV	4×108 A /cm2 srad (S-FEG) 1.8×109 A /cm2 srad (X-FEG) 2.4×109 A /cm2 srad (X-CFEG)