-
-
-
OPTM 半導體膜厚測試儀
- 品牌：日本大塚
- 型號/貨號： optm/optm
- 產地：亞洲 日本
- 供應商報價：面議
-
北京先鋒泰坦科技有限公司
更新時間：2025-07-16 14:59:03 -
銷售范圍售全國
入駐年限第10年
營業執照已審核
- 同類產品反射式膜厚儀(5件)
立即掃碼咨詢
聯系方式：13810146393
聯系我們時請說明在儀器網（www.yosen.net.cn）上看到的!
掃 碼 分 享 -
為您推薦
產品特點
- 測量目標膜的JD反射率，實現高精度膜厚和光學常數測試！ （分光干渉法）
詳細介紹
- 特長 Features· 膜厚測量中必要的功能集中于頭部· 通過顯微分光高精度測量JD反射率（多層膜厚、光學常數）· 1點只需不到1秒的高速tact· 實現了顯微下廣測量波長范圍的光學系（紫外～近紅外）· 通過區域傳感器控制的安全構造· 搭載可私人定制測量順序的強大功能· 即便是沒有經驗的人也可輕松解析光學常數· 各種私人定制對應（固定平臺，有嵌入式測試頭式樣）
測量項目 Measurement item· JD反射率測量· 膜厚解析· 光學常數解析（n：折射率、ｋ：消光系數）※ 上述式樣是帶有自動XY平臺。
構成圖半導體膜厚測試儀OPTM 式樣Specifications
※ release 時期 是OP-A1在2016年6月末、OP-A2、OP-A3預定2016年9月。＊ 膜厚范圍是SiO2換算。 技術資料
滬公網安備 31011502008050號