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日本JEOL電子探針顯微分析儀 JXA-iHP100

銷售范圍售全國

入駐年限第7年

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日本JEOL電子探針顯微分析儀 JXA-iHP100 核心參數

產品特點

日本JEOL電子探針顯微分析儀JXA-iHP100 ，可以安裝通用性強、使用方便的能譜儀X射線探測器，組合使用WDS和EDS，能提供無縫、舒適的分析環境。

JXA-iHP100 電子探針顯微分析儀

可以安裝通用性強、使用方便的能譜儀X射線探測器，組合使用WDS和EDS，能提供無縫、舒適的分析環境。

產品規格：

檢測元素范圍	WDS：(Be)*1 /B～U, EDS：B～U
X射線檢測范圍	WDS檢測的波長范圍: 0.087～9.3nm, EDS EDS檢測的能量范圍: 20keV
分光譜儀數量	WDS: 1～5道可選、EDS: 1臺
最大樣品尺寸	100mm × 100mm × 50mm（H）
加速電壓	0～30kV（以0.1 kV為步長）
束流電流范圍	10-12 ～ 10-5 A
束流電流穩定度	5%/h, ±0.3%/12h（W）
二次電子分辨率	6nm（W）, 5nm（LaB6）*2 （W.D. 11mm, 30kV）
掃描倍率	×40 ～ ×300,000（W. D. 11mm）
掃描圖像分辨率	最大 5,120× 3,840
彩色顯示器	EPMA分析用: LCD 1,280 × 1,024 SEM操作、 EDS分析用: LCD 1,280 × 1,024
光學顯微鏡
分辨率	～1um
焦深	1um
真空系統	機械泵、分子泵、離子泵 *2
真空度	樣品室: 優于8.0 x 10-4Pa, 電子槍: 優于9.0 x 10-5Pa