半導體元器件iv曲線測試儀優勢
?       性能強大-作為電壓源和或電流源，并同步測量電流和或電壓，支持四象限工作。可以限定電壓或電流輸出大小，預防器件損壞。覆蓋0-3A的電流范圍0-300V的電壓范圍，全量程測量精度0.03%。

?       靈活多樣-支持兩線制和四線制測量，更準確的低內阻量測;集成線性階梯掃描、對數階梯掃描、自定義掃描等模式;專業l-V特性及半導體參數測試軟件。

?       易學實用-簡化了如I-V和l-t/V-t曲線等各種應用的測量準備工作。電容式觸摸屏圖形用戶界面(GUI),提供圖形化和數字化兩種測量結果顯示模式，便于使用和查看。

多合一高精密SMU，簡化測量

    傳統的半導體I-V特性測量方案通常是復雜且成本昂貴的，需要多種儀器配合完成測試，對不同儀器進行編程、同步、連接、測量和分析，既復雜又耗時，還需占用大量測試臺空間。

S系列數字源表可作為獨立的恒壓源或恒流源、伏特計、安培計和歐姆表，還可用作精密電子負載，其高性能架構允許其使用作為波形發生器、以及自動電流-電壓(I-V)表征系統。極大縮短測試系統的開發、建立和維護的時間，同時節省測試架或測試臺的寶貴“空間”，降低購買測試系統的整體成本。

四象限工作，可以作為源或負載

電源象限是指以電源輸出電壓為X軸、輸出電流為Y軸形成的象限圖。D一、三象限即電壓電流同向，源表對其它設備供電，稱為源模式；第二、四象限即電壓電流反向，其它設備對源表放電，源表被動吸收流入的電流，且可為電流提供返回路徑，稱為阱模式。      

與傳統矩陣電源不同，S系列源表在同等功率下，客戶可根據實際需求，選擇大電壓小電流或小電壓大電流輸出。選擇的量程不同，S系列源表的源/阱極限也有區別。

源限度-電壓源:

士10V(≤3A量程)，土30V (≤1A量程),士300V     (≤100mA量程)

源限度-電流源:

土3(≤10V量程)，土1A(≤30V量程)，士100mA   (≤300V量程)

輕松滿足常用的測量需求

  觸摸屏幕上的任意圖標，就會出現圖像化設置屏幕。在測量前按照向導逐一設置，操作更直觀。

提供的應用程序

- 序列掃描

- 自定義序列

-  數據記錄儀：持續輸出恒壓源測試模式；持續輸出恒流源測試模式

- APD管

- 晶體管：MOSFET管測試；三極管測試

- LIV：PIN管掃描測試

- Gummer：雙臺源表使用同樣參數進行掃描

半導體元器件iv曲線測試儀應用領域：

分立器件特性測試：電阻、二極管、發光二極管、齊納二極管、PIN二極管、BJT三極管、MOSFET、SiC、GaN等器件；
能量與效率特性測試：LED/AMOLED、太陽能、電池、DC/DC轉換器；
傳感器特性測試：電阻率、霍爾效應等；
有機材料特性測試：電子墨水、印刷電子技術等；
納米材料特性測試：石墨烯、納米線等；
激光器特性測試：窄脈沖LIV測試系統；
功率器件：靜態測試系統；
電流傳感器：動靜態參數測試系統；